Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
otsustusdiagrammid (märksõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
56
Vaata veel..
(1/1)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(56)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
26
artikkel kogumikus
High level decision diagrams and characteristic polynomials
Karputkin, Anton
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK viienda aastakonverentsi artiklite kogumik : 25.-26. novembril 2011, Nelijärve
2011
/
p. 143-146 : ill
artikkel kogumikus
27
artikkel kogumikus
High-level decision diagram based fault models for targeting FSMs
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Viilukas, Taavi
9th EUROMICRO Conference on Digital Systems Design : Architectures, Methods and Tools (DSD 2006) : 30 August 2006-1 September 2006, Cavtat near Dubrovnik, Croatia : proceedings
2006
/
p. 353-358 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/DSD.2006.60
artikkel kogumikus
28
artikkel kogumikus
High-Level Decision Diagram manipulations for code coverage analysis
Minakova, Karina
;
Reinsalu, Uljana
;
Tšepurov, Anton
;
Raik, Jaan
;
Jenihhin, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Ellervee, Peeter
BEC 2008 : 2008 International Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 11th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology : October 6-8, 2008, Tallinn, Estonia
2008
/
p. 207-210 : ill
artikkel kogumikus
29
artikkel kogumikus
High-level decision diagrams based coverage metrics for verification and test
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Tšepurov, Anton
;
Reinsalu, Uljana
;
Ubar, Raimund-Johannes
LATW 2009 : 10th IEEE Latin American Test Workshop : Buzios, Rio de Janero, Brazil, March 2-5, 2009
2009
/
[6] p. : ill
http://dx.doi.org/10.1109/LATW.2009.4813792
artikkel kogumikus
30
artikkel kogumikus
High-level design error diagnosis using backtrace on decision diagrams
Raik, Jaan
;
Repinski, Urmas
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Tšepurov, Anton
28th Norchip Conference : Tampere, Finland, 15-16 November 2010 : conference program and papers
2010
/
[4] p. : ill
http://dx.doi.org/10.1109/NORCHIP.2010.5669486
artikkel kogumikus
31
artikkel kogumikus
How to generate high quality tests for digital systems
Ubar, Raimund-Johannes
;
Aarna, Margit
;
Kruus, Helena
;
Raik, Jaan
2004 International Semiconductor Conference : 27th edition, October 4-6, 2004, Sinaia, Romania : CAS 2004 proceedings. Volume 2
2004
/
p. 459-462 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/SMICND.2004.1403048
artikkel kogumikus
32
artikkel kogumikus
Intelligent decision making approach for performance evaluation of a robot-based manufacturing cell
Kangru, Tavo
;
Riives, Jüri
;
Otto, Tauno
;
Pohlak, Meelis
;
Mahmood, Kashif
ASME 2018 International Mechanical Engineering Congress and Exposition : Pittsburgh, Pennsylvania, USA, November 9–15, 2018
2018
/
Paper No. IMECE2018-86666, pp. V002T02A092; 10 p. : ill
http://doi.org/10.1115/IMECE2018-86666
artikkel kogumikus
33
artikkel kogumikus
Multi-level fault simulation of digital systems on decision diagrams
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
;
Ivask, Eero
;
Brik, Marina
The First IEEE International Workshop on Electronic Design, Test and Applications : DELTA 2002, 29-31 January 2002, Christchurch, New Zealand : proceedings
2002
/
p. 86-91 : ill
artikkel kogumikus
34
artikkel kogumikus
Multiple fault testing in systems-on-chip with high-level decision diagrams
Ubar, Raimund-Johannes
;
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Schölzel, Mario
;
Vierhaus, Heinrich Theodor
Proceedings of 2015 10th International Design & Test Symposium (IDT) : Dead Sea, Jordan, 14-16 December 2015
2015
/
p. 66-71 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/IDT.2015.7396738
artikkel kogumikus
35
artikkel kogumikus
Multi-valued simulation of digital circuits with structurally synthesized binary decision diagrams
Ubar, Raimund-Johannes
Multiple valued logic. Vol. 4
1998
/
p. 141-157
artikkel kogumikus
36
artikkel kogumikus
New fault models and self-test generation for microprocessors using High-Level Decision Diagrams
Jasnetski, Artjom
;
Raik, Jaan
;
Tšertov, Anton
;
Ubar, Raimund-Johannes
2015 IEEE 18th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems DDECS 2015 : 22-24 April 2015, Belgrade, Serbia : proceedings
2015
/
p. 251-254 : ill
artikkel kogumikus
37
artikkel kogumikus
On automatic software-based self-test program generation based on high-Level decision diagrams
Jasnetski, Artjom
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Tšertov, Anton
LATS 2016 : 17th IEEE Latin-American Test Symposium, Foz do Iguacu, Brazil, 6th-9th April 2016
2016
/
p. 177
http://dx.doi.org/10.1109/LATW.2016.7483357
artikkel kogumikus
38
artikkel ajakirjas
Overview about low-level and high-level decision diagrams for diagnostic modeling of digital systems
Ubar, Raimund-Johannes
Facta Universitatis [Niš]. Series electronics and energetics
2011
/
p. 303-324 : ill
http://dx.doi.org/10.2298/FUEE1103303U
artikkel ajakirjas
39
artikkel kogumikus
Overview about low-lewel and high-level decision diagrams for diagnostic modeling of digital systems
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of the Reed-Muller 2011 Workshop : May 25-26, 2011, Tuusula, Finland
2011
/
p. 1-10 : ill
artikkel kogumikus
40
artikkel kogumikus
Parallel fault analysis on structurally synthesized BDDs
Devadze, Sergei
;
Ubar, Raimund-Johannes
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK teise aastakonverentsi artiklite kogumik : 11.-12. mai 2007, Viinistu kunstimuuseum
2007
/
lk. 47-50 : ill
artikkel kogumikus
41
artikkel ajakirjas
PSL assertion checking using temporally extended high-level decision diagrams
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Tšepurov, Anton
;
Ubar, Raimund-Johannes
Journal of electronic testing : theory and applications
2009
/
6, p. 289-300 : ill
https://pld.ttu.ee/home/maksim/phd_papers/%5B11%5D%20latw%2708.pdf
artikkel ajakirjas
42
artikkel kogumikus
PSL assertions based verification with HLDD tools
Jenihhin, Maksim
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK teise aastakonverentsi artiklite kogumik : 11.-12. mai 2007, Viinistu kunstimuuseum
2007
/
lk. 17-20 : ill
artikkel kogumikus
43
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Ranking strategic objectives in a strategy map based on logarithmic fuzzy preference programming and similarity method
Safari, Hossein
;
Khanmohammadi, Ehsan
;
Maleki, Meysam
;
Cruz-Machado, Virgilio
;
Ševtšenko, Eduard
Management Systems in Production Engineering
2019
/
p. 153-161 : ill
https://doi.org/10.1515/mspe-2019-0025
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
44
artikkel kogumikus
Register-transfer level deductive fault simulation using decision diagrams
Reinsalu, Uljana
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
BEC 2010 : 2010 12th Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 12th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 4-6, 2010, Tallinn, Estonia
2010
/
p. 193-196 : ill
artikkel kogumikus
45
artikkel kogumikus
Simulation-based verification with APRICOT framework using high-level decision diagrams
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Tšepurov, Anton
;
Ubar, Raimund-Johannes
East-West Design & Test Symposium : Moscow, September 18-21, 2009
2009
/
p. 13-16 : ill
artikkel kogumikus
46
artikkel ajakirjas
Software-based self-test generation for microprocessors with high-level decision diagrams
Jasnetski, Artjom
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Tšertov, Anton
;
Brik, Marina
Proceedings of the Estonian Academy of Sciences
2014
/
p. 48-61 : ill
https://artiklid.elnet.ee/record=b2665215*est
artikkel ajakirjas
47
artikkel kogumikus
Software-based self-test generation for microprocessors with high-level decision diagrams
Ubar, Raimund-Johannes
;
Tšertov, Anton
;
Jasnetski, Artjom
;
Brik, Marina
LATW2014 : 15th IEEE Latin-American Test Workshop : Fortaleza, Brazil, March 12th-15th, 2014
2014
/
[6] p. : ill
artikkel kogumikus
48
raamat
Software-based self-test with decision diagrams for microprocessors
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jasnetski, Artjom
;
Tšertov, Anton
;
Oyeniran, Adeboye Stephen
2018
raamat
49
artikkel kogumikus
Structurally synthesized binary decision diagrams
Jutman, Artur
;
Peder, Ahti
;
Raik, Jaan
;
Tombak, Mati
;
Ubar, Raimund-Johannes
Boolean Problems : 6th International Workshop : September 23-24, 2004, Freiberg
2004
/
p. 271-278 : ill
artikkel kogumikus
50
artikkel kogumikus
Structurally synthesized multiple input BDDs for simulation of digital circuits
Ubar, Raimund-Johannes
;
Mironov, Dmitri
;
Raik, Jaan
;
Jutman, Artur
16th IEEE International Conference on Electronics, Circuits, and Systems, ICECS 2009 : Yasmine Hammamet, Tunesia, 13-19 December, 2009
2009
/
p. 451-454 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/ICECS.2009.5410895
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 56, kuvan
26 - 50
eelmine
1
2
3
järgmine
märksõna
1
1.
otsustusdiagrammid
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT