Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
Kostin, Sergei (autor)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
45
Vaata veel..
(3/139)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(45)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
26
artikkel kogumikus
Hierarchical timing-critical paths analysis in sequential circuits
Jürimägi, Lembit
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Devadze, Sergei
;
Kostin, Sergei
2018 IEEE 28th International Symposium on Power and Timing Modeling, Optimization and Simulation (PATMOS 2018) : 2 – 4 July 2018, Spain
2018
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/PATMOS.2018.8464176
artikkel kogumikus
27
artikkel kogumikus
How to prove that a circuit is fault-free?
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Raik, Jaan
Proceedings : 15th Euromicro Conference on Digital System Design DSD 2012 : 5-8 September 2012, Cesme, Izmir, Turkey
2012
/
p. 427-430 : ill
https://www.researchgate.net/publication/262271409_How_to_Prove_that_a_Circuit_is_Fault-Free
artikkel kogumikus
28
artikkel ajakirjas
Identification and rejuvenation of NBTI-critical logic paths in nanoscale circuits
Jenihhin, Maksim
;
Squillero, Giovanni
;
Tihhomirov, Valentin
;
Kostin, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
Journal of electronic testing : theory and applications (JETTA)
2016
/
p. 273-289 : ill
http://dx.doi.org/10.1007/s10836-016-5589-x
artikkel ajakirjas
29
artikkel kogumikus
Identifying NBTI-critical paths in nanoscale logic
Ubar, Raimund-Johannes
;
Vargas, Fabian
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Kostin, Sergei
;
Bolzani Poehls, Leticia
16th Euromicro Conference series on Digital System Design : DSD 2013 : proceedings : 4-6 September 2013, Santander, Spain
2013
/
p. 136-141 : ill
artikkel kogumikus
30
artikkel kogumikus
Investigations of the diagnosibility of digital networks with BIST
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Raik, Jaan
10th IEEE Latin American Test Workshop : 2-5 March 2009, Brazil
2009
/
[6] p. : ill
artikkel kogumikus
31
artikkel kogumikus
Macro level defect-oriented diagnosability of digital circuits
Kostin, Sergei
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
BEC 2010 : 2010 12th Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 12th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 4-6, 2010, Tallinn, Estonia
2010
/
p. 149-152 : ill
artikkel kogumikus
32
artikkel kogumikus
Macro level defect-oriented diagnosability of digital circuits
Kostin, Sergei
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK neljanda aastakonverentsi artiklite kogumik : 26.-27. novembril 2010, Essu mõis
2010
/
lk. 53-56 : ill
artikkel kogumikus
33
artikkel kogumikus
Multiple fault diagnosis with BDD based Boolean differential equations
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
;
Kostin, Sergei
;
Kõusaar, Jaak
BEC 2012 : 2012 13th Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 13th Biennial Baltic Electronics Conference : October 3-5, 2012, Tallinn, Estonia
2012
/
p. 77-80 : ill
artikkel kogumikus
34
artikkel kogumikus
Multiple stuck-at-fault detection theorem
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Raik, Jaan
Proceedings of the 2012 IEEE 15th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS) : April 18-20, 2012 Tallinn, Estonia
2012
/
p. 236-241 : ill
artikkel kogumikus
35
artikkel kogumikus
A novel random approach to diagnostic test generation
Osimiry, Emmanuel Ovie
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Raik, Jaan
2nd IEEE NORCAS Conference : 1-2 November 2016, Copenhagen, Denmark
2016
/
[4] p. : ill
https://doi.org/10.1109/NORCHIP.2016.7792915
artikkel kogumikus
36
artikkel kogumikus
On-line monitoring of dialysis adequacy using diasens optical sensor: accurate Kt/V estimation by smoothing algorithms
Talisainen, Aleksei
;
Kostin, Sergei
;
Karai, Deniss
;
Fridolin, Ivo
;
Ubar, Raimund-Johannes
BEC 2010 : 2010 12th Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 12th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 4-6, 2010, Tallinn, Estonia
2010
/
p. 273-276 : ill
artikkel kogumikus
37
artikkel kogumikus
Parallel critical path tracing fault simulation in sequential circuits
Kõusaar, Jaak
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Devadze, Sergei
;
Raik, Jaan
Proceedings of 25th International Conference MIXED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS : MIXDES 2018 : Gdynia, Poland, June 21–23, 2018
2018
/
p. 305-310 : ill
https://doi.org/10.23919/MIXDES.2018.8436880
artikkel kogumikus
38
artikkel kogumikus
Rejuvenation of nanoscale logic at NBTI-critical paths using evolutionary TPG
Palermo, N.
;
Tihhomirov, Valentin
;
Copetti, Thiago
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Kostin, Sergei
2015 16th Latin American Test Symposium (LATS 2015) : Puerto Vallarta, Mexico, 25-27 March 2015
2015
/
[6] p. : ill
http://dx.doi.org/10.1109/LATW.2015.7102405
artikkel kogumikus
39
dissertatsioon
Self-diagnosis in digital systems = Isediagnoosivad digitaalsüsteemid
Kostin, Sergei
2012
https://www.ester.ee/record=b2757857*est
dissertatsioon
40
artikkel kogumikus
SPICE-inspired fast gate-level computation of NBTI-induced delays in nanoscale logic
Kostin, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
2015 IEEE 18th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems DDECS 2015 : 22-24 April 2015, Belgrade, Serbia : proceedings
2015
/
p. 223-228 : ill
artikkel kogumikus
41
artikkel kogumikus
SSBDDs and double topology for multiple fault reasoning
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Raik, Jaan
Proceedings of IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS’2012) : Kharkov, Ukraine, September 14–17, 2012
2012
/
p. 23-28
artikkel kogumikus
42
artikkel kogumikus
Synthesis of multiple fault oriented test groups from single fault test sets [Electronic resource]
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Raik, Jaan
2013 8th International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS) : 26-28 March 2013, Abu Dhabi, UAE
2013
/
p. 36-41 : ill [CD-ROM]
artikkel kogumikus
43
artikkel kogumikus
Teaching research in the laboratory using diagnosis environment for digital systems
Kostin, Sergei
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
;
Aarna, Margit
;
Brik, Marina
;
Wuttke, Heinz-Dietrich
2009 EAEEIE annual conference : 20th Annual Conference of the European Association for Education in Electrical and Information Engineering : Valencia, Spain, June 22-24, 2009
2009
/
p. 280-283
https://ieeexplore.ieee.org/document/5335462
artikkel kogumikus
44
artikkel kogumikus
A tool for teaching hierarchical fault diagnosis in digital circuits
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Orasson, Elmet
;
Evartson, Teet
;
Brik, Marina
Proceedings of 9th European Workshop on Microelectronics Education – EWME’12 : Grenoble, France, May 9-11, 2012
2012
/
p. 1-4
artikkel kogumikus
45
artikkel kogumikus
A tool set for teaching design-for-testability of digital circuits
Kostin, Sergei
;
Orasson, Elmet
;
Ubar, Raimund-Johannes
EWME 2016 : 11th European Workshop on Microelectronics Education : May 11-13, 2016, Southampton, UK
2016
/
[6] p. : ill
https://doi.org/10.1109/EWME.2016.7496466
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 45, kuvan
26 - 45
eelmine
1
2
järgmine
autor
79
1.
Kostin, Sergei
2.
Astapov, Sergei
3.
Avanessov, Sergei
4.
Balõbin, Sergei
5.
Bereznev, Sergei
6.
Bogatenkov, Sergei
7.
Bogovski, Sergei
8.
Bonomanko, Sergei
9.
Buatšidze, Sergei
10.
Demidov, Sergei
11.
Devadze, Sergei
12.
Dokelin, Sergei
13.
Dolgov, Sergei
14.
Dolin, Sergei
15.
Falko, Sergei
16.
Jakovlev, Sergei
17.
Jegorov, Sergei
18.
Jekimov, Sergei
19.
Jurkin, Sergei
20.
Kaganski, Sergei
21.
Khakalo, Sergei
22.
Kholodkevich, Sergei
23.
Kiparissov, Sergei
24.
Konstantinov, Sergei
25.
Kopanchuk, Sergei
26.
Kopantšuk, Sergei
27.
Kornilov, Sergei
28.
Kramarenko, Sergei
29.
Kulikov, Sergei
30.
Letunovitš, Sergei
31.
Linevitš, Sergei
32.
Lugovski, Sergei
33.
Lukaševitš, Sergei
34.
Melentjev, Sergei
35.
Metlev, Sergei
36.
Mihhailov, Sergei
37.
Missenjov, Sergei
38.
Nazarenko, Sergei
39.
Odintsov, Sergei
40.
Ovsjanski, Sergei
41.
Pavlov, Sergei
42.
Pravkin, Sergei
43.
Preis, Sergei
44.
Roshtshin, Sergei
45.
Rudenja, Sergei
46.
Sabanov, Sergei
47.
Sazhin, Sergei
48.
Seeland, Sergei
49.
Shvarev, Sergei
50.
Silvestrov, Sergei
51.
Slepuhhov, Sergei
52.
Sokolov, Sergei
53.
Soldatov, Sergei
54.
Storojev, Sergei
55.
Storožev, Sergei
56.
Strik, Sergei
57.
Studzinsky, Sergei
58.
Zaitsev, Sergei V.
59.
Zarembo, Sergei
60.
Zhigailov, Sergei
61.
Zimakov, Sergei
62.
Zonov, Sergei
63.
Zub, Sergei
64.
Tamm, Sergei
65.
Tatarly, Sergei
66.
Teljakovski, Sergei
67.
Teterin, Sergei
68.
Tisler, Sergei
69.
Trashchenkov, Sergei
70.
Tšekrõžov, Sergei
71.
Tšeredišenko, Sergei
72.
Tšudinov, Sergei
73.
Vakulenko, Sergei
74.
Vlassov, Sergei
75.
Vorobjov, Sergei
76.
Yakneen, Sergei
77.
Yurchenko, Sergei
78.
Žari, Sergei
79.
Žigailov, Sergei
CV
45
1.
Kostin, Sergei
2.
Astapov, Sergei 1988
3.
Berezin, Sergei 1970
4.
Bereznev, Sergei 1968
5.
Buatšidze, Sergei
6.
Buatzidze, Sergei 1905-1975
7.
Demidov, Sergei
8.
Devadze, Sergei 1981
9.
Dokelin, Sergei 1917-1987
10.
Jakušev, Sergei 1964
11.
Kaganski, Sergei 1987
12.
Konstantinov, Sergei 1909-1984
13.
Kramarenko, Sergei 1980
14.
Kristafovitš, Sergei 1972
15.
Krištafovitš, Sergei
16.
Laks, Sergei 1901-1942
17.
Letunovitš, Sergei 1958
18.
Malnov, Sergei 1956
19.
Martinson, Sergei 1963
20.
Menšutin, Sergei 1919
21.
Nazarenko, Sergei 1955
22.
Odintsov, Sergei 1988
23.
Ovtsov, Sergei
24.
Pavlov, Sergei 1977
25.
Ponomar, Sergei
26.
Preis, Sergei 1959
27.
Rebane, Sergei 1974
28.
Rudenja, Sergei 1965
29.
Sabanov, Sergei 1974
30.
Schilling, Sergei 1881-1947
31.
Soldatov, Sergei 1933-2003
32.
Storozhev, Sergei
33.
Storožev, Sergei 1966
34.
Zari, Sergei
35.
Zimakov, Sergei 1975
36.
Zub, Sergei 1978
37.
Tamm, Sergei 1956
38.
Tisler, Sergei 1967
39.
Tšekrižov, Sergei
40.
Tšekrõžov, Sergei 1950
41.
Tšudinov, Sergei 1920
42.
Tupailo, Sergei 1965
43.
Urba, Sergei, 1899-1943
44.
Urbanovitš, Sergei
45.
Žari, Sergei 1987-
tema kohta
15
1.
Kostin, Sergei
2.
Anikin, Sergei
3.
Astapov, Sergei
4.
Bereznev, Sergei
5.
Bogatenkov, Sergei
6.
Jermolajev, Sergei
7.
Kaganski, Sergei, 1987-
8.
Letunovitš, Sergei
9.
Nazarenko, Sergei
10.
Pavlov, Sergei
11.
Preis, Sergei, 1959-
12.
Sabanov, Sergei, 1974-
13.
Soldatov, Sergei, 1933-2003
14.
Žari, Sergei
15.
Žigailov, Sergei
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT