Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
Device characterization (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
1
Vaata veel..
(1/54)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(1)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Study of MOSFET post-fault operation in fault-tolerant DC-DC converters
Bakeer, Abualkasim Ahmed Ali
;
Chub, Andrii
;
Vinnikov, Dmitri
2022 IEEE 7th International Energy Conference (ENERGYCON)
2022
/
Code 181231, 5 p
https://doi.org/10.1109/ENERGYCON53164.2022.9830216
artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid
1
Fault-tolerant galvanically isolated DC‑DC converters with zero redundancy = Null-liiasusega veatolerantsed galvaanilise isolatsiooniga alalispingemuundurid
Kirjeid leitud 1, kuvan
1 - 1
võtmesõna
54
1.
Device characterization
2.
device-to-device (D2D)
3.
device-to-device (D2D) communication
4.
device-to-device communication
5.
cardiac device therapy
6.
cooling device performance
7.
Counter Improvised Explosive Device (C-IED)
8.
device
9.
device capacity
10.
device characterisation
11.
device modeling
12.
Discrete power device
13.
energy saving device (ESD)
14.
energy storage device
15.
implantable medical device
16.
Improvised Explosive Device (IED)
17.
low-power device
18.
massive device connectivity
19.
microfluidic device
20.
on-device transfer learning
21.
plasma-focus device
22.
power semiconductor device
23.
projected device density of states (PDDOS)
24.
Real device
25.
robotic device
26.
semiconductor device manufacture
27.
semiconductor device measurement
28.
semiconductor device modeling
29.
semiconductor device reliability
30.
storage device
31.
Superconducting device noise
32.
Wearable device
33.
ash characterization
34.
Bond characterization
35.
characterization
36.
characterization of the working environment
37.
Chemical characterization
38.
data-driven characterization
39.
defect characterization
40.
electro-chemo-mechanical characterization (ECMD)
41.
fish waste characterization
42.
Malware characterization
43.
material characterization
44.
material characterization methods
45.
micro characterization and surface roughness measurement
46.
microstructural characterization
47.
nondestructive material characterization
48.
phenotypic characterization
49.
photoelectrochemical characterization
50.
physicochemical characterization
51.
surface characterization
52.
thin films characterization
53.
waste characterization
54.
virtual characterization
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT