Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
defect identification (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
1
Vaata veel..
(1/58)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(1)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Non-intrusive defects identification for the high voltage instrument transformers
Asefi, Sajjad
;
Kilter, Jako
;
Landsberg, Mart
2023 IEEE 17th International Conference on Compatibility, Power Electronics and Power Engineering (CPE-POWERENG)
2023
/
5 p
https://doi.org/10.1109/CPE-POWERENG58103.2023.10227493
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 1, kuvan
1 - 1
võtmesõna
58
1.
defect identification
2.
defect and failure analysis
3.
defect characterization
4.
defect chemistry
5.
defect detection
6.
Defect states
7.
defect structure
8.
hann-shaped defect
9.
marginal defect
10.
point defect
11.
surface defect
12.
Automatic identification system
13.
automatic identification system (AIS)
14.
Autonomous Identification System (AIS)
15.
brand community identification
16.
brand identification
17.
brand origin identification
18.
change point identification
19.
closed-loop identification
20.
critical area identification
21.
critical path identification
22.
digital identification
23.
electronic identification
24.
eyewitness identification
25.
identification
26.
identification cards
27.
identification of military objects
28.
identification of unbalance voltage source
29.
identification of voltage unbalance sources
30.
identification patterns
31.
identification problems
32.
identification via heteroskedasticity
33.
language identification
34.
medicinal product identification
35.
message identification
36.
metaverse identification
37.
model identification
38.
mould identification
39.
nonlinear model identification
40.
parameter identification
41.
path identification
42.
patient identification techniques
43.
phase identification
44.
radio frequency identification
45.
root identification
46.
Satellite Autonomous Identification System (SAIS)
47.
seismic signal identification
48.
self-identification
49.
speaker identification
50.
species identification
51.
structural identification
52.
sustem identification
53.
system identification
54.
taxonomical identification
55.
thermal behavior identification
56.
threat identification
57.
vehicle identification
58.
yeast identification
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT