Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
point defect (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(1/61)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas
Interaction of point defects with impurities in the Si-SiO2 system and its influence on the interface properties
Kropman, Daniel
;
Mellikov, Enn
;
Kärner, Tiit
;
Heinmaa, Ivo
;
Laas, Tõnu
;
Londos, Charalampos
;
Misiuk, Andrzej
Solid state phenomena
2011
/
p. 263-266
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0040609009014564
artikkel ajakirjas
2
artikkel ajakirjas
Stress relaxation mechanism by strain in the Si-SiO2 system and its influence on the interface properties
Kropman, Daniel
;
Mellikov, Enn
;
Kärner, Tiit
;
Laas, Tõnu
;
Medvid, Arthur
;
Onufrijevs, Pavels
;
Dauksta, Edvins
Solid state phenomena
2011
/
p. 259-262
https://globaljournals.org/GJSFR_Volume17/1-Stresses-Relaxation-Mechanism.pdf
artikkel ajakirjas
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
61
1.
point defect
2.
point defects
3.
defect and failure analysis
4.
defect characterization
5.
defect chemistry
6.
defect detection
7.
defect identification
8.
Defect states
9.
defect structure
10.
hann-shaped defect
11.
marginal defect
12.
surface defect
13.
average boiling point
14.
best efficiency point
15.
boiling point
16.
change point identification
17.
crotch point
18.
Curie depth point (CPD)
19.
dew point
20.
flash point
21.
focal point
22.
four-point bending test
23.
fraass breaking point
24.
global maximum power point
25.
hemodynamic feature point
26.
Kalman-filter based maximum power point tracking (KF-MPPT)
27.
Light Detection and Ranging (LiDAR) point cloud
28.
maximum power point
29.
maximum power point tracker
30.
Maximum power point trackers
31.
maximum power point tracking
32.
maximum power point tracking (MPPT)
33.
neutral point clamped inverter
34.
neutral-point-clamped inverter
35.
normal boiling point
36.
point cloud
37.
point cloud data
38.
point cloud modelling
39.
point electrodes
40.
Point Load Test index
41.
point multiplication
42.
point of care (POC) diagnostics
43.
point of common coupling
44.
point of evaluation
45.
point source pollution
46.
point source ventilation effectiveness
47.
Point-of-Care
48.
Point-of-Care (PoC)
49.
point-of-care testing
50.
point-of-interest
51.
Point-wise integration
52.
primal dual interior point method
53.
shade-tolerant maximum power point tracking (MPPT)
54.
Single Point Positioning (SPP)
55.
zero moment point
56.
test point insertion
57.
three-level neutral-point-clamped inverter
58.
Three-point bending test
59.
two and four contact-point
60.
3D point cloud
61.
4-point bending tests
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT