Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
X-Ray Diffraction (XRD) (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
1
Vaata veel..
(2/37)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(1)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas
Comparison of curvature and X-Ray methods for measuring of residual stresses in hard PVD coatings
Lille, Harri
;
Kõo, Jakub
;
Gregor, Andre
;
Ryabchikov, Alexander
;
Sergejev, Fjodor
;
Traksmaa, Rainer
;
Kulu, Priit
Materials science forum
2011
/
p. 455-460
artikkel ajakirjas
Kirjeid leitud 1, kuvan
1 - 1
võtmesõna
31
1.
X-Ray Diffraction (XRD)
2.
single crystal X-ray diffraction
3.
X ray powder diffraction
4.
X-ray diffraction
5.
Ex situ FTIR and XRD
6.
quantitative XRD analysis
7.
SC-XRD
8.
XRD
9.
XRD structure analysis
10.
diffraction
11.
diffraction grating
12.
electron backscatter diffraction (EBSD)
13.
electron backscattered diffraction analysis
14.
synchrotron diffraction
15.
gamma ray
16.
ray-tracing simulation
17.
small angle X-ray scattering
18.
small-angle X-ray scattering
19.
X-ray analysis
20.
X-ray computed tomography
21.
X-ray crystallographic analysis
22.
X-ray crystallography
23.
X-ray fluorescence spectroscopy
24.
X-ray line-profile analysis
25.
X-ray methods
26.
X-ray methods B
27.
X-ray photoelectron spectroscopy
28.
X-ray structures
29.
X-ray technique
30.
X-ray techniques
31.
x-ray tomography
autor
6
1.
Baughman, Ray
2.
Kahnert, Sean Ray
3.
Ray, Cyril
4.
Ray, G.
5.
Ray, Shannon
6.
Stewart, Ray
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT