Otsing - TalTech teadusportaal

kuva

reasta

176

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Tribological properties of selective laser melted Al12Si alloyRathod, H.J.; Nagaraju, T.; Prashanth, Konda Gokuldoss; Ramamurty, U.Tribology international2019 / p. 94-101 : ill https://doi.org/10.1016/j.triboint.2019.04.038 Journal metrics at Scopus Article at Scopus Journal metrics at WOS Article at WOS

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

177

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Understanding fault-tolerance vulnerabilities in advanced SoC FPGAs for critical applicationsCherezova, Natalia; Shibin, Konstantin; Jenihhin, Maksim; Jutman, ArturMicroelectronics reliability2023 / art. 115010, 10 p. : ill https://doi.org/10.1016/j.microrel.2023.115010 Journal metrics at Scopus Article at Scopus Journal metrics at WOS Article at WOS

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

178

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

179

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Wear behaviour of Cr3C2-Ni cermet reinforced hardfacingsBendikiene, Regita; Ciuplys, Antanas; Sertvytis, Rolandas; Surženkov, Andrei; Tkachivskyi, Dmytro; Viljus, Mart; Traksmaa, Rainer; Antonov, Maksim; Kulu, PriitJournal of materials research and technology2020 / p. 7068-7078 : ill https://doi.org/10.1016/j.jmrt.2020.05.042 Journal metrics at Scopus Article at Scopus Journal metrics at WOS Article at WOS

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

180

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

181

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

182

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

183

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Verifying cache architecture vulnerabilities using a formal security verification flowGhasempouri, Tara; Raik, Jaan; Paul, Kolin; Reinbrecht, Cezar; Hamdioui, Said; Taouil, MottaqiallahMicroelectronics reliability2021 / art. 114085 https://doi.org/10.1016/j.microrel.2021.114085 Journal metrics at Scopus Article at Scopus Journal metrics at WOS Article at WOS

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

184

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Visible light-assisted instability of kesterite Cu2ZnSnS4 : what are the implications?Kois, Julia; Polivtseva, Svetlana; Mamedov, Damir; Samieipour, Ali; Karazhanov, S. Zh.Solar energy materials and solar cells2020 / art. 110384, 10 p https://doi.org/10.1016/j.solmat.2019.110384 Journal metrics at Scopus Article at Scopus Journal metrics at WOS Article at WOS

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

185

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

XPS study of OH impurity in solution processed CdS thin filmsMaticiuc, Natalia; Katerski, Atanas; Danilson, Mati; Krunks, Malle; Hiie, JaanSolar energy materials and solar cells2017 / p. 211-216 : ill https://doi.org/10.1016/j.solmat.2016.10.040 Journal metrics at Scopus Article at Scopus Journal metrics at WOS Article at WOS

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG