Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
atomic force microscopy (AFM) (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
1
Vaata veel..
(1/51)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(1)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
The effect of heat treatment on the morphology and mobility of Au nanoparticles
Oras, Sven
;
Vlassov, Sergei
;
Vigonski, Simon
;
Polyakov, Boris
;
Antsov, Mikk
;
Zadin, Vahur
;
Lõhmus, Rünno
;
Mougin, Karine
Beilstein Journal of Nanotechnology
2020
/
p. 61-67
https://doi.org/10.3762/bjnano.11.6
Journal metrics at Scopus
article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Kirjeid leitud 1, kuvan
1 - 1
võtmesõna
51
1.
atomic force microscopy (AFM)
2.
atomic force microscopy
3.
AFM
4.
cryoelectron microscopy single-particle analysis
5.
electron microscopy
6.
Fluorescence microscopy
7.
light microscopy
8.
microscopy
9.
microscopy image analysis
10.
optical microscopy
11.
scanning electron microscopy
12.
TIRF microscopy
13.
transmission electron microscopy
14.
atomic layer deposition
15.
atomic layer deposition (ALD)
16.
atomic NFA
17.
atomic oxygen irradiation
18.
atomic structure
19.
atomic structures
20.
atomic weight
21.
Bio-active™ multi-force archwires
22.
brute-force
23.
coercive force
24.
compressive ice force
25.
covalent intermolecular force
26.
electromagnetic force
27.
electromotive force (EMF) calculation
28.
force
29.
force control
30.
force feedback
31.
force field calculations
32.
force measurement
33.
force plates
34.
gavitational force
35.
gravitational force
36.
ice force
37.
ice force stochasticity
38.
illocutionary force
39.
impact force
40.
impact force debris
41.
labour force
42.
lift force
43.
lifting force
44.
linear oscillating electromagnetic force
45.
Lorenz force
46.
multi-force orthodontic wires
47.
radial force
48.
senior work force
49.
underwater force measurements
50.
use of force
51.
wind force model
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT