Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
IEEE transactions on device and materials reliability (allikas)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(1/37)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas
AdAM: Adaptive Approximate Multiplier for Fault Tolerance in DNN Accelerators
Taheri, Mahdi
;
Cherezova, Natalia
;
Nazari, Samira
;
Azarpeyvand, Ali
;
Ghasempouri, Tara
;
Daneshtalab, Masoud
;
Raik, Jaan
;
Jenihhin, Maksim
IEEE transactions on device and materials reliability
2024
/
p. 66-75 : ill
https://doi.org//10.1109/TDMR.2024.3523386
artikkel ajakirjas
Seotud publikatsioonid
1
Methods for reliability assessment and enhancement of deep neural networks hardware accelerators = Süvanärvivõrkude riistvara kiirendite töökindluse hindamine ja täiustamine
2
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Systematic unsupervised recycled field-programmable gate array detection
Isaka, Yuya
;
Shintani, Michihiro
;
Ahmed, Foisal
;
Inoue, Michiko
IEEE transactions on device and materials reliability
2022
/
10 p. : ill
https://doi.org/10.1109/TDMR.2022.3164788
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
37
1.
semiconductor device reliability
2.
materials reliability
3.
device-to-device (D2D)
4.
device-to-device (D2D) communication
5.
device-to-device communication
6.
cardiac device therapy
7.
cooling device performance
8.
Counter Improvised Explosive Device (C-IED)
9.
device
10.
device capacity
11.
device characterisation
12.
Device characterization
13.
device modeling
14.
device therapy
15.
Discrete power device
16.
energy saving device (ESD)
17.
energy storage device
18.
implantable medical device
19.
Improvised Explosive Device (IED)
20.
low-power device
21.
massive device connectivity
22.
medical device
23.
microfluidic device
24.
motion-reduction device
25.
on-device transfer learning
26.
plasma-focus device
27.
power semiconductor device
28.
projected device density of states (PDDOS)
29.
Real device
30.
robotic device
31.
semiconductor device failure
32.
semiconductor device manufacture
33.
semiconductor device measurement
34.
semiconductor device modeling
35.
storage device
36.
Superconducting device noise
37.
Wearable device
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT