Анализ методов тестирования микропроцессоров

ilmumiskoht
Таллин
ilmumisaasta
leheküljed
с. 53-62
seeria variantpealkiri
TPI Toimetised ; 530
Труды ТПИ ; 530
märkused
Библиогр. : 13 назв
keel
vene