Toggle navigation
Otsi
Publikatsioonid
Profiilid
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
testimine (märksõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Kirjeid leitud
340
Vaata veel..
(0/0)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(340)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
A comprehensive methodology for stress procedures evaluation and comparison for Burn-In of automotive SoC
Appello, D.
;
Bernardi, P.
;
Giacopelli, G.
;
Ruberg, Priit
Proceedings of the 2017 Design, Automation & Test in Europe (DATE) : 27-31 March 2017, Swisstech, Lausanne, Switzerland
2017
/
p. 646-649 : ill
https://doi.org/10.23919/DATE.2017.7927068
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
A DFT scheme to improve coverage of hard-to-detect faults in FinFET SRAMs
Cardoso Medeiros, Guilherme
;
Gürsoy, Cemil Cem
;
Fieback, Moritz
;
Wu, Lizhou
;
Jenihhin, Maksim
;
Taouil, Mottaqiallah
;
Hamdioui, Said
2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 9-13 March 2020, Grenoble, France : proceedings
2020
/
p. 792-797
https://doi.org/10.23919/DATE48585.2020.9116278
artikkel kogumikus
3
artikkel kogumikus
A framework for improving web application user interfaces through immediate evaluation
Marenkov, Jevgeni
;
Robal, Tarmo
;
Kalja, Ahto
Databases and information systems IX : selected papers from the twelfth International Baltic Conference, DB&IS 2016
2016
/
p. 283-296 : ill
http://dx.doi.org/10.3233/978-1-61499-714-6-283
artikkel kogumikus
4
artikkel ajakirjas
A knowledge-based approach to the specification-based program testing
Tepandi, Jaak
Computers and artificial intelligence = Вычислительные машины и искуственный интеллект = Pocitace a umela inteligencia
1988
/
p. 39-48
https://www.ester.ee/record=b1482459*est
artikkel ajakirjas
5
artikkel kogumikus
A library of samples for testing variable load electric drives
Liivik, Liisa
;
Vodovozov, Valery
;
Rassõlkin, Anton
Digest book and electronic proceedings : 54th International Scientific Conference of Riga Technical University : Section of Power and Electrical Engineering
2013
/
p. 12.1-12.6 : ill
artikkel kogumikus
6
artikkel kogumikus
A method for crosstalk fault detection in on-chip buses
Bengtsson, Tomas
;
Jutman, Artur
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kumar, Shashi
Norchip : proceedings : Oulu, Finland, 21-22 November 2005
2005
/
p. 285-288 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/NORCHP.2005.1597045
artikkel kogumikus
7
artikkel kogumikus
A new measure for calculating multiple fault coverage of microprocessor self-test
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Odozi, Uzochukwu Eddie
;
Ubar, Raimund-Johannes
BEC 2016 : 2016 15th Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 15th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 3-5, 2016, Tallinn, Estonia
2016
/
p. 75-78 : ill
http://www.ester.ee/record=b2150914*est
artikkel kogumikus
8
artikkel ajakirjas
A numerical study for plant-independent evaluation of fractional-order PID controller performance
Alagoz, Baris Baykant
;
Tepljakov, Aleksei
;
Yeroglu, Celaleddin
;
Gonzalez, Emmanuel A.
;
Hossein Nia, S. Hassan
;
Petlenkov, Eduard
IFAC-PapersOnLine
2018
/
p. 539-544 : ill
https://doi.org/10.1016/j.ifacol.2018.06.151
artikkel ajakirjas
9
artikkel kogumikus
A scalable technique to identify true critical paths in sequential circuits
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
Proceedings 2017 IEEE 20th International Symposium on Design and Diagnotics of Electronic Circuit & Systems(DDECS) : April 19-21, 2017, Dresden, Germany
2017
/
p. 152-157 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=7934553
artikkel kogumikus
10
artikkel kogumikus
A study of the toxicity of the ozonation products of phenols and chlorophenols by daphnia magna test
Trapido, Marina
;
Veressinina, Jelena
23rd Estonian Chemistry Days : abstracts of scientific conference
1997
/
p. 152
artikkel kogumikus
11
artikkel kogumikus
A suite of IEEE 1687 benchmark networks
Tšertov, Anton
;
Jutman, Artur
;
Devadze, Sergei
2016 IEEE International Test Conference (ITC) : proceedings
2016
/
art. 6.1, p. 1-10 : ill
https://doi.org/10.1109/TEST.2016.7805840
artikkel kogumikus
12
artikkel kogumikus
A synthesis-agnostic behavioral fault model for high gate-level fault coverage
Karputkin, Anton
;
Raik, Jaan
Proceedings of the 2016 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE) : 14-18 March 2016, ICC, Dresden, Germany
2016
/
p. 1124-1127 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/7459477/figures#figures
artikkel kogumikus
13
artikkel ajakirjas
A systematic approach on modeling refinement and regression testing of real-time distributed systems
Pal, Deepak
;
Vain, Jüri
IFAC-PapersOnLine
2019
/
p. 1091-1096
https://doi.org/10.1016/j.ifacol.2019.11.341
artikkel ajakirjas
14
artikkel kogumikus
A tool for random test generation targeting high diagnostic resolution
Osimiry, Emmanuel Ovie
;
Kostin, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
BEC 2016 : 2016 15th Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 15th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 3-5, 2016, Tallinn, Estonia
2016
/
p. 79-82 : ill
http://www.ester.ee/record=b2150914*est
artikkel kogumikus
15
artikkel kogumikus
A tool set for teaching design-for-testability of digital circuits
Kostin, Sergei
;
Orasson, Elmet
;
Ubar, Raimund-Johannes
EWME 2016 : 11th European Workshop on Microelectronics Education : May 11-13, 2016, Southampton, UK
2016
/
[6] p. : ill
http://dx.doi.org/10.1109/EWME.2016.7496466
artikkel kogumikus
16
artikkel kogumikus
Advances in moving speaker acoustic localization for operation in distributed systems
Astapov, Sergei
;
Berdnikova, Julia
;
Preden, Jürgo-Sören
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK seitsmenda aastakonverentsi artiklite kogumik : 15.-16. novembril 2013, Haapsalu
2013
/
p. 9-12 : ill
artikkel kogumikus
17
artikkel kogumikus
Air change efficiency of room ventilation units
Mikola, Alo
;
Rehand, Juhan
;
Kurnitski, Jarek
E3S Web of Conferences : CLIMA 2019 Congress, Bucharest, Romania, May 26-29, 2019
2019
/
art. 01017, 8 p
https://doi.org/10.1051/e3sconf/201911101017
artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid
1
Ventilation performance in deep renovation of multifamily apartment buildings = Terviklikult renoveeritud korterelamute ventilatsioonisüsteemide toimivus
18
artikkel ajakirjas
Algorithms of functional level testability analysis for digital circuits
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kuchcinski, Ktzysztof
Periodica polytechnica. Electrical engineering
1992
/
3/4, p. 295-308
artikkel ajakirjas
19
artikkel kogumikus
An external diagnosis method for network-on-a-chip
Raik, Jaan
;
Govind, Vineeth
;
Ubar, Raimund-Johannes
IEEE/ACM Design Automation and Test in Europe, Workshop on Diagnostic Services in Networks-on-Chips - Test, Debug and On-line Monitoring : April 16-20, 2007, Nice, France
2007
/
[2] p. : ill
artikkel kogumikus
20
artikkel kogumikus
An external test approach for network-on-a-chip switches
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Govind, Vineeth
ATS '06 : Proceedings of the 15th Asian Test Symposium : November 20-23, 2006, Fukuoka, Japan
2006
/
p. 437-442 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/ATS.2006.23
artikkel kogumikus
21
artikkel kogumikus
An overview of expert system testing with remarks on distributed architecture
Parmakson, Priit
;
Tepandi, Jaak
Proc. of the 11th Int. Scientific School on Distributed Information Systems Architecture, Wroclaw, 28.Jan.-1.Feb., 1990
1990
artikkel kogumikus
22
artikkel kogumikus
Analysis of a three-phase induction motor using the dynamic state space model
Asad, Bilal
;
Vaimann, Toomas
;
Belahcen, Anouar
17th International Symposium “Topical Problems in the Field of Electrical and Power Engineering”. Doctoral school of energy and geotechnology. III : Kuressaare, Estonia, January 15-20, 2018
2018
/
p. 65-69 : ill
http://ise.elnet.ee/record=b2950017~S2*est
artikkel kogumikus
23
artikkel kogumikus
Application of sequential test set compaction to LFSR reseeding
Aleksejev, Igor
;
Jutman, Artur
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
26th Norchip Conference : Tallinn, Estonia, 17-18 November 2008 : formal proceedings
2008
/
p. 102-107 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/NORCHP.2008.4738292
artikkel kogumikus
24
dissertatsioon
Aspect-oriented model-based testing = Aspekt-orienteeritud mudeli-põhine testimine
Sarna, Külli
2018
https://digi.lib.ttu.ee/i/?11065
dissertatsioon
25
artikkel kogumikus
Aspect-oriented Model-based testing with UPPAAL timed automata
Vain, Jüri
;
Tsiopoulos, Leonidas
;
Kanter, Gert
Model and Data Engineering : 10th International Conference, MEDI 2021, Tallinn, Estonia, June 21–23, 2021 : proceedings
2021
/
p. 117-124
https://doi.org/10.1007/978-3-030-78428-7_10
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 340, kuvan
1 - 25
eelmine
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
järgmine
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT