Toggle navigation
Otsi
Publikatsioonid
Profiilid
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
RISC processors (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
Tühista
teaviku laadid
raamat
artikkel ajakirjas
artikkel ajalehes
artikkel kogumikus
dissertatsioon
Open Access
Teaduspublikatsioon
aasta
Kirjeid leitud
3
Vaata veel..
(2/23)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(3)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
nimi kasvavalt
nimi kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
High-level combined deterministic and pseudoexhuastive test generation for RISC processors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Gürsoy, Cemil Cem
;
Raik, Jaan
2019 IEEE European Test Symposium (ETS) : proceedings
2019
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/ETS.2019.8791526
artikkel kogumikus
2
High-Level Combined Deterministic and Pseudo-exhuastive Test Generation for RISC Processors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
2019 IEEE European Test Symposium (ETS) : ETS 2019, May 27-31, 2019, Baden-Baden, Germany : Proceedings
2019
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/ETS.2019.8791526
artikkel kogumikus
3
Implementation-independent test generation for a large class of faults in RISC processor modules
Jenihhin, Maksim
;
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
24th Euromicro Conference on Digital System Design (DSD)
2021
https://doi.org/10.1109/DSD53832.2021.00090
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 3, kuvan
1 - 3
pealkiri
20
1.
Fault model and test synthesis for RISC-processors
2.
High-level combined deterministic and pseudoexhuastive test generation for RISC processors
3.
High-Level Combined Deterministic and Pseudo-exhuastive Test Generation for RISC Processors
4.
High-Level Implementation-Independent Functional Software-Based Self-Test for RISC Processors
5.
High-level implementation-independent software-based self-test for RISC type microprocessors = Mikroprotsessorite tarkvarapõhine implementatsioonist mittesõltuv funktsionaalne enesekontroll
6.
Implementation-independent functional test generation for RISC microprocessors
7.
Applications of modern DSP processors
8.
At-speed functional built-in self-test methodology for processors [Electronic resource]
9.
Embedded test processors (ETP)
10.
Hewlett-Packardi uus PA-RISC
11.
Implementation-independent test generation for a large class of faults in RISC processor modules
12.
Post-RISC-arhitektuur
13.
Power-performance trade-offs in second level memory used by an ARM-like Risc architecture
14.
Rejuvenation of NBTI-impacted processors using evolutionary generation of assembler programs
15.
RISC - sardmikrokontrollerid
16.
RISC-arhitektuuri arengusuundade peegeldusi mikroprotsessoris R10000
17.
RISC-mikroprotsessorid reaalajasüsteemides
18.
RISC-mikroprotsessorite arhitektuur
19.
RISC-sardmikrokontrollerid
20.
Using soft-core processors and FPGA development boards for hardware emulation
võtmesõna
3
1.
RISC processors
2.
digital signal processors
3.
RISC processor testing