Tihhomirov, V., Jenihhin, M., Raik, J. - TalTech Research Portal

full record print

Using simulation statistics for bug localization in RTL designs

author

Tihhomirov, Valentin

Jenihhin, Maksim

Raik, Jaan

statement of authorship

Valentin Tihhomirov, Maksim Jenihhin, Jaan Raik

source

Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK seitsmenda aastakonverentsi artiklite kogumik : 15.-16. novembril 2013, Haapsalu

location of publication

Tallinn

publisher

Tallinna Tehnikaülikooli kirjastus

year of publication

2013

pages

p. 107-110 : ill

conference name, date

Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK seitsmes aastakonverents, 15.-16. novembril 2013

conference location

Haapsalu

ISBN

978-9949-23-560-5

notes

Bibliogr.: 19 ref

TTÜ department

arvutitehnika instituut

language

inglise

Märksõnad ja võtmesõnad

subject term

digitaaltehnika

riistvara

testimine

kompuutersimulatsioon

Tihhomirov, V., Jenihhin, M., Raik, J. Using simulation statistics for bug localization in RTL designs // Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK seitsmenda aastakonverentsi artiklite kogumik : 15.-16. novembril 2013, Haapsalu. Tallinn : Tallinna Tehnikaülikooli kirjastus, 2013. p. 107-110 : ill.