print

Using simulation statistics for bug localization in RTL designs

author
Tihhomirov, Valentin
Jenihhin, Maksim
Raik, Jaan
statement of authorship
Valentin Tihhomirov, Maksim Jenihhin, Jaan Raik
source
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK seitsmenda aastakonverentsi artiklite kogumik : 15.-16. novembril 2013, Haapsalu
location of publication
Tallinn
publisher
Tallinna Tehnikaülikooli kirjastus
year of publication
2013
pages
p. 107-110 : ill
conference name, date
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK seitsmes aastakonverents, 15.-16. novembril 2013
conference location
Haapsalu
subject term
digitaaltehnika
riistvara
testimine
kompuutersimulatsioon
ISBN
978-9949-23-560-5
notes
Bibliogr.: 19 ref
TTÜ department
arvutitehnika instituut
language
inglise
Tihhomirov, V., Jenihhin, M., Raik, J. Using simulation statistics for bug localization in RTL designs // Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK seitsmenda aastakonverentsi artiklite kogumik : 15.-16. novembril 2013, Haapsalu. Tallinn : Tallinna Tehnikaülikooli kirjastus, 2013. p. 107-110 : ill.