Системное исследование влияния технологического микроклимата на качество интегральных микросхем
author
location of publication
Таллин
publisher
year of publication
pages
с. 53-58
series
series variant title
TPI Toimetised ; 521
Труды ТПИ ; 521
TTÜ subject term
notes
Библиогр. : 5 назв
language
vene
Рятсеп, Ю.П. Системное исследование влияния технологического микроклимата на качество интегральных микросхем // Методы обработки и регистрации сигналов. Таллин : Таллинский политехнический институт, 1981. с. 53-58. (Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института ; 521, Радиотехника ; 9).