Системное исследование влияния технологического микроклимата на качество интегральных микросхем
autor
ilmumiskoht
Таллин
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
с. 53-58
seeria-sari
seeria variantpealkiri
TPI Toimetised ; 521
Труды ТПИ ; 521
TTÜ märksõna
märkused
Библиогр. : 5 назв
keel
vene
Рятсеп, Ю.П. Системное исследование влияния технологического микроклимата на качество интегральных микросхем // Методы обработки и регистрации сигналов. Таллин : Таллинский политехнический институт, 1981. с. 53-58. (Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института ; 521, Радиотехника ; 9).