Бударин, В.Н., Рятсеп, Ю.П., Тээвет, Дж.-Т.Э.

Прогнозирование качества интегральных микросхем на основе кластеров состояний

author

Budarin, Vladimir

Rätsep, Ülo

Teevet, J.-T.

source

Методы и средства цифровой обработки сигналов

location of publication

Таллин

publisher

Таллинский политехнический институт

year of publication

1984

pages

с. 111-115

series

Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института ; 582

Радиотехника ; 10

series variant title

TPI Toimetised ; 582

Труды ТПИ ; 582

subject term

integraallülitused

kvaliteet

prognostika

klastrid

TTÜ subject term

Tallinna Tehnikaülikooli toimetised

notes

Библиогр. : 4 назв

language

vene

Бударин, В.Н., Рятсеп, Ю.П., Тээвет, Дж.-Т.Э. Прогнозирование качества интегральных микросхем на основе кластеров состояний // Методы и средства цифровой обработки сигналов. Таллин : Таллинский политехнический институт, 1984. с. 111-115. (Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института ; 582, Радиотехника ; 10).