full record print

Прогнозирование качества интегральных микросхем на основе кластеров состояний

author
statement of authorship
В.Н. Бундарин, Ю.П. Рятсеп, Дж.-Т.Э. Тээвет
source
location of publication
Таллин
publisher
year of publication
pages
с. 111-115
series
series variant title
url
ISSN
0136-3549
0320-3441
notes
Библиогр. : 4 назв
Summary: Integrated circuits quality prediction on the basis of condition clusters
scientific publication
teaduspublikatsioon
TalTech department
language
vene
Бударин, В.Н., Рятсеп, Ю.П., Тээвет, Дж.-Т.Э. Прогнозирование качества интегральных микросхем на основе кластеров состояний // Методы и средства цифровой обработки сигналов. Таллин : Таллинский политехнический институт, 1984. с. 111-115. (Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института ; 582, Радиотехника ; 10). https://www.ester.ee/record=b1302208*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/e49ece5a-b726-4a2f-860f-748b84670a0c