Optimization of memory-constrained hybrid BIST for testing core-based systems
author
Jervan, Gert
Kruus, Helena
Orasson, Elmet
Ubar, Raimund-Johannes
statement of authorship
Gert Jervan, Helena Kruus, Elmet Orasson, Raimund Ubar
source
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK teise aastakonverentsi artiklite kogumik : 11.-12. mai 2007, Viinistu kunstimuuseum
location of publication
[Tallinn]
publisher
[Tallinna Tehnikaülikool]
year of publication
2007
pages
lk. 133-136 : ill
subject term
digitaaltehnika
testimine
ISBN
978-9985-59-700-2
notes
Bibliogr.: 17 nim
language
inglise