print

Macro level defect-oriented diagnosability of digital circuits

author
Kostin, Sergei
Ubar, Raimund-Johannes
Raik, Jaan
statement of authorship
Sergei Kostin, Raimund Ubar, Jaan Raik
source
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK neljanda aastakonverentsi artiklite kogumik : 26.-27. novembril 2010, Essu mõis
location of publication
[Tallinn]
publisher
[Tallinna Tehnikaülikooli kirjastus]
year of publication
2010
pages
lk. 53-56 : ill
conference name, date
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK neljas aastakonverents, 26.-27. novembril 2010
conference location
Essu mõis
subject term
digitaalintegraallülitused
diagnostika (tehnika)
ISBN
978-9949-23-044-0
notes
Bibliogr.: 18 nim
language
inglise
Kostin, S., Ubar, R., Raik, J. Macro level defect-oriented diagnosability of digital circuits // Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK neljanda aastakonverentsi artiklite kogumik : 26.-27. novembril 2010, Essu mõis. [Tallinn] : [Tallinna Tehnikaülikooli kirjastus], 2010. lk. 53-56 : ill.