Решение задач проектирования тестов микроэлектронных устройств при помощи АГ
author
statement of authorship
Р.Убар
source
Тезисы докл. всесоюзн. школы-семинара "Диагностика, надежность контроль"
location of publication
Владивосток
year of publication
pages
c. 65
subject term
language
vene
Убар Р. Решение задач проектирования тестов микроэлектронных устройств при помощи АГ // Тезисы докл. всесоюзн. школы-семинара "Диагностика, надежность контроль". Владивосток, 1990. c. 65.