New technique for hierarchical identification of untestable faults in sequential circuits
author
Krivenko, Anna
Ubar, Raimund-Johannes
Raik, Jaan
Kruus, Margus
statement of authorship
Anna Krivenko, Raimund Ubar, Jaan Raik, Margus Kruus
source
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK kolmanda aastakonverentsi artiklite kogumik : 25.-26. aprill 2008, Voore külalistemaja
location of publication
[Tallinn
publisher
TTÜ kirjastus]
year of publication
2008
pages
lk. 155-158 : ill
subject term
digitaalintegraallülitused
rikked
identifitseerimine
ISBN
978-9985-59-782-8
notes
Bibliogr.: 8 ref
language
inglise