Измерение параметров аналоговых микросборок применением компенсационного метода
author
Laansoo, Ants
Männama, Vello
Pikkov, Otto
statement of authorship
А. Лаансоо, В. Мяннама, О. Пикков
source
Машинное проектирование электронных устройств и систем
location of publication
Таллин
publisher
Таллинский политехнический институт
year of publication
1988
pages
с. 105-112 : ил
series
Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института = Transactions of Tallinn Technical University ; 674
Электротехника и автоматика ; 35
series variant title
TPI Toimetised ; 674
Труды ТПИ ; 674
url
https://www.ester.ee/record=b1256708*est
https://digikogu.taltech.ee/et/Item/2e6337b1-2222-4e66-98fb-89178f835390
subject term
seadmed
mikroskeemid
testimine
TalTech subject term
Tallinna Tehnikaülikooli toimetised
ISSN
0136-3549
3134-3823
notes
Библиогр. : 4 назв
Abstract: Measuring parameters of the analog microcircuits using the compensational method
Kokkuvõte: Analoog-mikroskeemide parameetrite mõõtmine kompensatsioonmeetodiga
scientific publication
teaduspublikatsioon
classifier
3.2
TalTech department
elektroonika kateeder
language
vene