Test system for fault detection and diagnosis in microprocessor control devices
author
Ubar, Raimund-Johannes
Lohuaru, Tõnu
Männisalu, Mati
Pukk, P.
Vanamölder, E.
statement of authorship
R.Ubar, T.Lohuaru, M.Männisalu, P.Pukk, E.Vanamölder
source
Tallinna Tehnikaülikooli Toimetised
journal volume number month
708
year of publication
1990
pages
lk. 63-77: ill
subject term
mikroprotsessorid
kontroll
ISSN
0868-4081
notes
Bibl. 6 nim
review
Kokkuvõte: Mikroprotsessorseadmete kontrollisüsteem
Резюме: Убар Р., Лохуару Т., Мяннисалу М., Пукк П., Ванамельдер Э. Система контроля микропроцессорных устройствб в прил. с. 2-3
language
inglise