Normale zur Eichung von Schichtdickenmeßgeräten
author
statement of authorship
R. Laaneots, A. Velling
source
Metrologia wielkości mechanicznych i kontrola jakości produkcji : sympozjum metrologia '89, Warszawa, 21-23 czerwca 1989 r. : referaty i komunikaty
location of publication
Warszawa
publisher
year of publication
pages
S. 267-274
conference name, date
Metrologia wielkości mechanicznych i kontrola jakości produkcji : sympozjum metrologia '89, 21-23 czerwca 1989 r.
conference location
Warszawa
subject term
TTÜ department
language
saksa
Laaneots, R., Velling, A. Normale zur Eichung von Schichtdickenmeßgeräten // Metrologia wielkości mechanicznych i kontrola jakości produkcji : sympozjum metrologia '89, Warszawa, 21-23 czerwca 1989 r. : referaty i komunikaty. Warszawa : Politechnika Warszawska, 1989. S. 267-274.