Система генерирования тестов для микропроцессоров
autor
Ubar, Raimund-Johannes
Dušina, Julia
Zaugarov, Viktor
Крупнова Е.
Storožev, Sergei
vastutusandmed
Р.Убар, Ю.Душина, В.Заугаров, Е.Крупнова, С.Сторожев
allikas
Proceedings of international conference "Technical Diagnostics-93", St.-Peterburg, June 8-10, 1993
ilmumiskoht
St.-Peterburg
ilmumisaasta
1993
leheküljed
p. 87-89
märksõna
mikroprotsessorid
testid
keel
vene