A PL study of CIGS thin films imlanted with He and D ions

vastutusandmed
M.V.Yakushev, R.W.Martin, J.Krustok, H.W.Schock, R.D.Pilkington, A.E.Hill, R.D.Tomlinson
ajakirja aastakäik number kuu
361/362
ilmumisaasta
leheküljed
p. 488-493
märksõna
keel
inglise
Yakushev, M.V., Martin, R.W., Krustok, J., Schock, H.W., Pilkington, R.D., Hill, A.E., Tomlinson, R.D. A PL study of CIGS thin films imlanted with He and D ions // Thin solid films (2000) 361/362, p. 488-493.