Phase composition of selenized Cu2ZnSnSe4 thin films determined by X-ray diffraction and Raman spectroscopy
autor                    
                    
                
vastutusandmed                    
                    
M. Ganchev, J. Iljina, L. Kaupmees, T. Raadik, O. Volobujeva, A. Mere, M. Altosaar, J. Raudoja, E. Mellikov
                            
                    
allikas                    
                    
                
ajakirja aastakäik number kuu                    
                    
Vol. 519, 21
                            
                    
ilmumisaasta                    
                    
                
leheküljed                    
                    
p. 7394-7398 : ill
                            
                    
võtmesõna                    
                    
                
ISSN                    
                    
0040-6090
                            
                    
märkused                    
                    
Bibliogr.: 14 ref
                            
                    
keel                    
                    
inglise
                            
                    
                            Ganchev, M., Iljina, J., Kaupmees, L., Raadik, T., Volobujeva, O., Mere, A., Altosaar, M., Raudoja, J., Mellikov, E. Phase composition of selenized Cu2ZnSnSe4 thin films determined by X-ray diffraction and Raman spectroscopy // Thin solid films (2011) Vol. 519, 21, p. 7394-7398 : ill.