Применение в ТПИ растворного электронного микроскопа в материаловедении

Паат, А. Применение в ТПИ растворного электронного микроскопа в материаловедении // Электрофизические свойства полупроводниковых и диэлектрических материалов. Таллин : Таллинский политехнический институт, 1986. с. 79-84. (Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института ; 620, Полупроводниковые материалы ; 7).