Otto, T., Riives, J. - TalTech teadusportaal

Monitoring of technological competences

autor

Otto, Tauno

Riives, Jüri

vastutusandmed

Otto, T., Riives, J

allikas

Annals of DAAAM for 2006 & proceedings of the 17th International DAAAM Symposium "Intelligent Manufacturing & Automation : Focus on Mechatronics and Robotics" : 8-11th November 2006, Vienna, Austria

ilmumiskoht

Vienna

kirjastus/väljaandja

DAAAM International Vienna

ilmumisaasta

2006

leheküljed

p. 279-280

ISBN

3-901509-57-7

keel

inglise

Märksõnad ja võtmesõnad

märksõna

tehnoloogia

kompetentsus

seire

Otto, T., Riives, J. Monitoring of technological competences // Annals of DAAAM for 2006 & proceedings of the 17th International DAAAM Symposium "Intelligent Manufacturing & Automation : Focus on Mechatronics and Robotics" : 8-11th November 2006, Vienna, Austria. Vienna : DAAAM International Vienna, 2006. p. 279-280.