EFIC-ME : a fast emulation based fault injection control and monitoring enhancement
autor
Abideen, Zain Ul
Rashid, Muhammad Haroon
vastutusandmed
Zain Ul Abideen, Muhammad Haroon Rashid
allikas
IEEE Access
kirjastus/väljaandja
IEEE
ajakirja aastakäik number kuu
vol. 8
ilmumisaasta
2020
leheküljed
p. 207705-207716
leitav
https://doi.org/10.1109/ACCESS.2020.3038198
märksõna
usaldusväärsus
emuleerimine
manussüsteemid
rikked
riistvara
turvalisus
paindlikkus
võtmesõna
dependability
emulation
embedded systems
fault injection
hardware security
Opal Kelly field programmable gate array (FPGA)
flexibility
ISSN
2169-3536
märkused
Bibliogr.: 28 ref
Open Access
Open Access
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
1.1
Scopus
https://www.scopus.com/sourceid/21100374601
https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85097356103&origin=inward&txGid=2f1165cb9a49c99935e3d326b2af989d
WOS
https://jcr.clarivate.com/jcr-jp/journal-profile?journal=IEEE%20ACCESS&year=2022
https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000595015400001
kategooria (üld)
Engineering
Computer science
Materials science
Tehnika
Arvutiteadus
Materjaliteadus
kategooria (alam)
Engineering. General engineering
Computer science. General computer science
Materials science. General materials science
Tehnika. Üldine inseneriteadus
Arvutiteadus. Üldine arvutiteadus
Materjaliteadus. Üldine materjaliteadus
kvartiil
Q1
TTÜ struktuuriüksus
Thomas Johann Seebecki elektroonikainstituut
keel
inglise
Uurimisrühm
Riistvara turvalisuse keskus