Otsing - TalTech teadusportaal

kuva

reasta

1

artikkel kogumikus

APPRAISER : DNN fault resilience analysis employing approximation errorsTaheri, Mahdi; Ahmadilivani, Mohammad Hasan; Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan; Daneshtalab, Masoud2023 26th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS)2023 / p. 124−127 https://ddecs2023.taltech.ee/ https://doi.org//10.1109/DDECS57882.2023.10139468

artikkel kogumikus

2

artikkel kogumikus

Dynamic reference for evaluation of bioimpedance spectroscopy devicesRist, Marek; Min, MartBEC 2016 : 2016 15th Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 15th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 3-5, 2016, Tallinn, Estonia2016 / p. 107-110 : ill http://www.ester.ee/record=b2150914*est

artikkel kogumikus

3

artikkel kogumikus

Dynamic volume measurement of right ventricle using impedance spectroscopy and multi electrode intraventricular catheterKink, Andres; Rist, Marek; Land, Raul; Kõiv, Hip; Min, MartInternational Workshop on Impedance Spectroscopy : IWIS 2016 : September 26-28, 2016, Technische Universität Chemnitz, Germany : abstract book2016 / p. 26-27 : ill

artikkel kogumikus

4

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

EFIC-ME : a fast emulation based fault injection control and monitoring enhancementAbideen, Zain Ul; Rashid, Muhammad HaroonIEEE Access2020 / p. 207705-207716 https://doi.org/10.1109/ACCESS.2020.3038198 Journal metrics at Scopus Article at Scopus Journal metrics at WOS Article at WOS

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

5

artikkel kogumikus

Professor Raoul Üksvärava koolkond juhtimisteaduses : teke, toimimine ja mõjud majandusele [Elektrooniline teavik]Terk, ErikEstonian discussions on economic policy (Articles) = Estnische Gespräche über Wirtschaftspolitik (Beiträge) = Eesti majanduspoliitilised väitlused (Artiklid). 28, 1-22020 / lk. 117-135 [CD-ROM] https://www.ester.ee/record=b2280774*est

artikkel kogumikus

6

artikkel kogumikus

PSL assertion checkers synthesis with ASM based HLS tool ABELITEJenihhin, Maksim; Baranov, Samary; Raik, Jaan; Tihhomirov, ValentinLATW 2012 : 13th IEEE Latin-American Test Workshop proceedings : April 10th-13th, 2012, Quito, Ecuador2012 / [6 p.] : ill https://ieeexplore.ieee.org/document/6261251

artikkel kogumikus

emulation (võtmesõna)

teaviku laadid

võtmesõna 2