Hydrogen interaction with point defects in the Si-SiO2 structures and its influence on the interface properties
autor
Kropman, Daniel
Mellikov, Enn
Kärner, T.
Ugaste, Ülo
Laas, Tõnu
Heinmaa, I.
Abru, Uno
Medvid, A.
vastutusandmed
D.Kropman, E.Mellikov, T.Kärner, Ü.Ugaste, T.Laas, I.Heinmaa, U.Abru, A.Medvid
allikas
Solid state phenomena
ajakirja aastakäik number kuu
Vol. 131/133
ilmumisaasta
2008
leheküljed
p. 345-350
leitav
https://www.scientific.net/SSP.131-133.345
märksõna
räni
ränidioksiid
vesinik
faasieralduspinnad
tuumamagnetresonants
elektroni paramagnetresonantsspektroskoopia
keel
inglise