Otsing - TalTech Publikatsioonid

Kropman, Daniel (autor)

—

Lisa tingimus Liitotsing

Tühista

teaviku laadid

raamat

artikkel ajakirjas

artikkel ajalehes

artikkel kogumikus

dissertatsioon

Open Access

Teaduspublikatsioon

aasta

ekspordi kõik päringu tulemused (26)
Salvesta TXT fail

Salvesta PDF fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel ajakirjas

Hydrogen interaction with point defects in the Si-SiO2 structures and its influence on the interface propertiesKropman, Daniel; Mellikov, Enn; Kärner, T.; Ugaste, Ülo; Laas, Tõnu; Heinmaa, I.; Abru, Uno; Medvid, A.Solid state phenomena2008 / p. 345-350

artikkel ajakirjas
2

artikkel ajakirjas

Impurity interaction with point defects in the Si-SiO2 structures and its influence on the interface propertiesKropman, Daniel; Mellikov, Enn; Kärner, T.; Ugaste, Ülo; Laas, Tõnu; Heinmaa, I.; Medvid, A.Materials science and engineering : B2006 / p. 222-226 : ill

artikkel ajakirjas
3

artikkel ajakirjas

Interaction between point defects in the Si-Si=2 systemKropman, Daniel; Kärner, T.; Samoson, Ago; Heinmaa, I.; Mellikov, EnnNuclear instruments & methods in physics research. Section B2002 / p. 78-82

artikkel ajakirjas
4

artikkel kogumikus

Interaction between point defects in the Si-SiO2 system during the process of its formationKropman, Daniel; Kärner, T.; Samoson, Ago; Heidmaa, I.; Ugaste, Ülo; Mellikov, EnnDefect and Diffusion Forum2001 / p. 1737-1744

artikkel kogumikus
5

artikkel ajakirjas

Interaction between point defects, extended defects and impurities in the Si-SiO2 system during the process of its formationKropman, Daniel; Kärner, T.; Abru, Uno; Ugaste, Ülo; Mellikov, EnnThin solid films2004 / 1/2, p. 53-57 : ill

artikkel ajakirjas
6

artikkel ajakirjas

Interaction between point defects, extended defects and impurities in the Si-SiO2 system during the process of its formationKropman, Daniel; Kärner, T.; Abru, Uno; Ugaste, Ülo; Mellikov, Enn; Kauk, MaritMaterials science and engineering : B2004 / p. 295-298 : ill

artikkel ajakirjas
7

artikkel ajakirjas

Interaction of point defects with impurities in the Si-SiO2 system and its influence on the interface propertiesKropman, Daniel; Mellikov, Enn; Kärner, Tiit; Heinmaa, Ivo; Laas, Tõnu; Londos, Charalampos; Misiuk, AndrzejSolid state phenomena2011 / p. 263-266

artikkel ajakirjas
8

artikkel ajakirjas

Interaction of point defects with impurities in the Si-SiO2 system and its influence on the interface propertiesKropman, Daniel; Kärner, Tiit; Dolgov, Sergei; Heinmaa, Ivo; Laas, Tõnu; Londos, CharalamposPhysica status solidi (c)2011 / p. 694-696 : ill

artikkel ajakirjas
9

artikkel kogumikus

Interaction of point defects with impurities in the Si-SiO2 system and its influence on the interface propertiesKropman, Daniel; Kärner, Tiit; Dolgov, Sergei; Heinmaa, Ivo; Laas, Tõnu; Londos, C. A.The 9th International Conference on Global Research and Education : August 9-12, 2010, Riga : digest2010 / p. 231-233

artikkel kogumikus
10

artikkel kogumikus

Interaction of point defects with impurities in the Si-SiO2 system and its influence on the properties of the interfaceKropman, Daniel; Mellikov, Enn; Lott, Kalju; Kärner, T.; Heinmaa, I.Getterring and defect engineering in semiconductor technology XIII : CADEST 2009 : proceedings of the XIIIth International Autumn Meeting, Döllnsee-Schorfheide, north of Berlin, Germany, September 26 - October 02, 20092010 / p. 145-148 : ill

artikkel kogumikus
11

artikkel ajakirjas

Interaction of point defects with impurities in the Si-SiO2 system and its influence on the properties of the interfaceKropman, Daniel; Mellikov, Enn; Lott, Kalju; Kärner, T.; Heinmaa, I.; Laas, Tõnu; Medvid, A.; Skroupa, W.; Prucnal, S.; Zvyagin, S.; Cizmar, E.; Ozerov, M.; Wosnitsa, J.Solid state phenomena2010 / p. 145-148 : ill

artikkel ajakirjas
12

artikkel ajakirjas

Interaction of point defects with impurities in the Si-SiO2 system and its influence on the properties of the interfaceKropman, Daniel; Mellikov, Enn; Öpik, Andres; Lott, Kalju; Kärner, T.; Heinmaa, I.; Laas, Tõnu; Medvid, A.; Skroupa, W.; Prucnal, S.; Rebohle, L.; Zvyagin, S.; Cizmar, E.; Ozerov, M.; Wosnitsa, J.Thin solid films2010 / 9, p. 2374-2376

artikkel ajakirjas
13

artikkel kogumikus

Interaktsioon punktdefektide ja lisandite vahel süsteemis Si-SiO2 ja nende mõju piirpinna omadustele : [ettekande sisukokkuvõte]Kropman, Daniel; Kärner, T.; Heinmaa, I.Eesti Füüsika Seltsi aastaraamat 20082009 / lk. 119-120

artikkel kogumikus
14

artikkel ajakirjas

Investigation of strain relaxion mechanism in Si-SiO2 system during the process of its formationKropman, Daniel; Poll, V.; Kärner, T.; Ugaste, Ülo; Mellikov, Enn; Arbu, Uno; Paomets, V.Physica status solidi (a)2003 / 2, p. 297-301

artikkel ajakirjas
15

artikkel ajakirjas

Low-K factor of SiO2 layer on Si irradiated by YAG:Nd laserMedvid, A.; Onufrijevs, Pavels; Mellikov, Enn; Kropman, Daniel; Muktepavela, F.; Bakradze, G.Journal of non-crystalline solids2007 / p. 703-707 : ill

artikkel ajakirjas
16

artikkel kogumikus

Point defects interaction with extended defects and impurities and its influence on the Si-SiO2 system propertiesKropman, Daniel; Arbu, Uno; Kärner, T.; Ugaste, Ülo; Mellikov, Enn; Kauk, Marit; Heinmaa, I.; Samoson, Ago; Medvid, A.Gettering and defect engineering in semiconductor technology. XI2005 / p. 333-338 : ill

artikkel kogumikus
17

artikkel kogumikus

Point defects interaction with extended defects in the Si-SiO2 system [Electronic resource]Kropman, Daniel; Kärner, T.; Abru, Uno; Ugaste, Ülo; Mellikov, EnnProceedings IVC-16 : Venice, 20042004 / p. SS1-TuP394 [CD-ROM]

artikkel kogumikus
18

artikkel kogumikus

Strain relaxation mechanism in the Si-SiO2 system and its influence on the interface propertiesKropman, Daniel; Mellikov, Enn; Öpik, Andres; Lott, Kalju; Volobujeva, Olga; Kärner, T.; Heinmaa, I.; Laas, Tõnu; Medvid, A.Radiation Interaction with Materials and its use in Technologies : Kaunas, 24-27.09.20082008 / p. 204-207

artikkel kogumikus
19

artikkel ajakirjas

Strain relaxation mechanism in the Si-SiO2 system and its influence on the interface propertiesKropman, Daniel; Mellikov, Enn; Öpik, Andres; Lott, Kalju; Volobujeva, Olga; Kärner, T.; Heinmaa, I.; Laas, Tõnu; Medvid, A.Physica B : condensed matter2009 / 23/24, p. 5153-5155 : ill

artikkel ajakirjas
20

artikkel ajakirjas

Stress relaxation mechanism by strain in the Si-SiO2 system and its influence on the interface propertiesKropman, Daniel; Mellikov, Enn; Kärner, Tiit; Laas, Tõnu; Medvid, Arthur; Onufrijevs, Pavels; Dauksta, EdvinsSolid state phenomena2011 / p. 259-262

artikkel ajakirjas
21

artikkel ajakirjas

Understanding and control of stress at Si-SiO2 interfaceKropman, Daniel; Seeman, Viktor; Medvids, Arturs; Onufrijevs, Pavels; Vitusevich, Svetlana; Mikli, ValdekKey engineering materials2020 / p. 291−296 https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/KEM.850.291

artikkel ajakirjas
22

artikkel kogumikus

Влияние неоднородностей в моно- и поликристаллическом Cds на фотоэлектрические и длинновременные неравновесные свойстваKropman, Daniel; Lott, Kalju; Šeinkman, M.Физика, химия и технические применения полупроводников A2B6 : тезисы докладов IV всесоюзного совещания (Одесса, 16-19 ноября 1976 г.)1976 / с. 123 https://www.ester.ee/record=b2969209*est

artikkel kogumikus
23

artikkel ajakirjas

Влияние облучения низкоэнергетическими электронами в растровом электронном микроскопе на параметры полупроводниковых приборовMeiler, Boriss; Kropman, Daniel; Levtšenkova, AllaМикроэлектроника1987 / с. 165-169 : илл https://www.ester.ee/record=b2147720*est

artikkel ajakirjas
24

artikkel kogumikus

Исследование температурного тушения фотопроводимости в пленках CdSKropman, DanielПолупроводниковые материалы. 11969 / с. 107-113 : илл https://www.ester.ee/record=b1346474*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/da24f532-932d-41c5-8925-a52dfa4b18c8/

artikkel kogumikus
25

artikkel kogumikus

Исследование термостимулированной провидимости и эффекта Холла в пленках CdSKropman, DanielПолупроводниковые материалы. 11969 / с. 97-105 : илл https://www.ester.ee/record=b1346474*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/da24f532-932d-41c5-8925-a52dfa4b18c8/

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 26, kuvan 1 - 25