Comprehensive performance and robustness analysis of 2D turn models for network-on-chips

vastutusandmed
Siavoosh Payandeh Azad, Behrad Niazmand, Karl Janson, Thilo Kogge, Jaan Raik, Gert Jervan, Thomas Hollstein
allikas
2017 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS)
ilmumiskoht
Piscataway
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
p. 1476-1479 : ill
konverentsi nimetus, aeg
50th IEEE International Symposium on Circuits and Systems, ISCAS 2017, 28.-31. May, 2017
konverentsi toimumispaik
Baltimore, United States
kvartiil
Q3
kategooria (üld)
võtmesõna
turn model
minimal path
ISSN
2379-447X
0271-4310
ISBN
978-1-4673-6852-0
märkused
bibliogr.: 13 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
3.1
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise