Toggle navigation
Otsi
Publikatsioonid
Profiilid
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
Raik, Jaan (autor)
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Kirjeid leitud
443
Vaata veel..
(0/0)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(443)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
A constraint-driven gate-level test generator
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jervan, Gert
;
Krupnova, Helena
BEC'96 : the 5th Biennial Baltic Electronics Conference, October 7-11, 1996, Tallinn, Estonia : proceedings
1996
/
p. 237-240: ill
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
A framework for area-efficient concurrent online checkers design
Saltarelli, Pietro
;
Niazmand, Behrad
;
Hariharan, Ranganathan
;
Raik, Jaan
;
Jervan, Gert
;
Hollstein, Thomas
MEDIAN Finale : Workshop on Manufacturable and Dependable Multicore Architectures at Nanoscale : November 10-11, 2015, Tallinn, Estonia
2015
/
p. 64-69 : ill
artikkel kogumikus
3
artikkel kogumikus
A framework for combining concurrent checking and online embedded test for low-latency fault detection in NoC routers
Saltarelli, Pietro
;
Niazmand, Behrad
;
Raik, Jaan
;
Govind, Vineeth
;
Hollstein, Thomas
;
Jervan, Gert
;
Hariharan, Ranganathan
NOCS '15 : International Symposium on Networks-on-Chip : Vancouver, BC, Canada, September 28-30, 2015
2015
/
[8] p. : ill
http://dx.doi.org/10.1145/2786572.2788713
artikkel kogumikus
4
artikkel kogumikus
A framework for comprehensive automated evaluation of concurrent online checkers
Saltarelli, Pietro
;
Niazmand, Behrad
;
Raik, Jaan
;
Hariharan, Ranganathan
;
Jervan, Gert
;
Hollstein, Thomas
Euromicro Conference on Digital System Design : DSD 2015 : 26-28 August 2015, Funchal, Madeira, Portugal : proceedings
2015
/
p. 288-292 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/DSD.2015.15
artikkel kogumikus
5
artikkel kogumikus
A generic synthesizable NoC switch with a scalable testbench
Govind, Vineeth
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
BEC 2006 : 2006 International Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 2-4, 2006, Tallinn, Estonia : proceedings of the 10th Biennial Baltic Electronics Conference
2006
/
p. 91-94 : ill
artikkel kogumikus
6
artikkel kogumikus
A hierarchical automatic test pattern generator based on using alternative graphs
Brik, Marina
;
Jervan, Gert
;
Markus, Antti
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of the 4th International Workshop Mixed Design of Integrated Circuits and Systems : MIXDES'97 : Poznan, Poland, 12-14 June 1997
1997
/
p. 415-420
artikkel kogumikus
7
artikkel ajakirjas
A new testability calculation method to guide RTL test generation
Raik, Jaan
;
Nõmmeots, Tanel
;
Ubar, Raimund-Johannes
Journal of electronic testing : theory and applications
2005
/
1, p. 71-82 : ill
artikkel ajakirjas
8
artikkel kogumikus
A novel random approach to diagnostic test generation
Osimiry, Emmanuel Ovie
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Raik, Jaan
2nd IEEE NORCAS Conference : 1-2 November 2016, Copenhagen, Denmark
2016
/
[4] p. : ill
https://doi.org/10.1109/NORCHIP.2016.7792915
artikkel kogumikus
9
artikkel kogumikus
A PC-based CAD system for training digital test
Ubar, Raimund-Johannes
;
Buldas, Ahto
;
Paomets, Priidu
;
Raik, Jaan
;
Tulit, Viljar
The Fifth EUROCHIP Workshop on VLSI Design Training, 17-18-19 October 1994, Dresden, Germany
1994
/
p. 152-157: ill
artikkel kogumikus
10
artikkel kogumikus
A rescue demonstrator for interdependent aspects of reliability, security and quality towards a complete EDA flow
Raik, Jaan
;
Jenihhin, Maksim
Proceedings of the 2020 Design, Automation & Test in Europe Conference &Exhibition (DATE 2020), 9 to 13 March, 2020, Grenoble, France
2020
/
p. 58
https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?arnumber=9116424
artikkel kogumikus
11
artikkel kogumikus
A scalable model based RTL framework zamiaCAD for static analysis
Tšepurov, Anton
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Tihhomirov, Valentin
2012 IEEE/IFIP 20th International Conference on VLSI and System-on-Chip (VLSI-SoC) : October 7-10, 2012 Santa Cruz, USA Dream Inn, Santa Cruz, USA : [proceedings]
2012
/
p. 171-176 : ill
artikkel kogumikus
12
artikkel kogumikus
A scalable static test set compaction method for sequential circuits
Aleksejev, Igor
;
Raik, Jaan
;
Jutman, Artur
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of the 9th IEEE Latin-American Test Workshop : LATW2008 : February 17-20, 2008, Puebla, Mexico
2008
/
p. 87-92 : ill
artikkel kogumikus
13
artikkel kogumikus
A scalable technique to identify true critical paths in sequential circuits
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
Proceedings 2017 IEEE 20th International Symposium on Design and Diagnotics of Electronic Circuit & Systems(DDECS) : April 19-21, 2017, Dresden, Germany
2017
/
p. 152-157 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=7934553
artikkel kogumikus
14
artikkel kogumikus
A security verification template to assess cache architecture vulnerabilities
Ghasempouri, Tara
;
Raik, Jaan
;
Paul, Kolin
;
Reinbrecht, Cezar
;
Hamdioui, Said
;
Taouil, M.
2020 23rd International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS), April 22nd – 24th 2020 Novi Sad, Serbia : Proceedings
2020
/
art. 9095707, 6 p
https://doi.org/10.1109/DDECS50862.2020.9095707
artikkel kogumikus
15
artikkel kogumikus
A set of tools for estimating quality of built-in self-test in digital circuits
Jervan, Gert
;
Markus, Antti
;
Paomets, Priidu
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of the International Symposium on Signals, Circuits and Systems, Iasi (Romania), October 2-3, 1997
1997
/
p. 362-365
artikkel kogumikus
16
artikkel kogumikus
A synthesis-agnostic behavioral fault model for high gate-level fault coverage
Karputkin, Anton
;
Raik, Jaan
Proceedings of the 2016 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE) : 14-18 March 2016, ICC, Dresden, Germany
2016
/
p. 1124-1127 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/7459477/figures#figures
artikkel kogumikus
17
artikkel kogumikus
A tool for random test generation targeting high diagnostic resolution
Osimiry, Emmanuel Ovie
;
Kostin, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
BEC 2016 : 2016 15th Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 15th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 3-5, 2016, Tallinn, Estonia
2016
/
p. 79-82 : ill
http://www.ester.ee/record=b2150914*est
artikkel kogumikus
18
artikkel kogumikus
About robustness of test patterns regarding multiple faults
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Raik, Jaan
LATW 2012 : 13th IEEE Latin-American Test Workshop proceedings : April 10th-13th, 2012, Quito, Ecuador
2012
/
p. 86-91 : ill
artikkel kogumikus
19
artikkel kogumikus
Abstraction of clock interface for conversion of RTL VHDL to SystemC
Saif Abrar, Syed
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
2014 IEEE International Advance Computing Conference (IACC) : February 21-22, 2014, Gurgaon, India
2014
/
p. 50-55 : ill
artikkel kogumikus
20
artikkel kogumikus
Accelerating transient fault injection campaigns by using Dynamic HDL Slicing
Bagbaba, Ahmet Cagri
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Sauer, Christian
2019 IEEE Nordic Circuits and Systems Conference (NORCAS) : NORCHIP and International Symposium of System-on-Chip (SoC), 29-30 October 2019, Helsinki, Finland : proceedings in IEEE Xplore
2019
/
7 p. : ill
https://doi.org/10.1109/NORCHIP.2019.8906932
artikkel kogumikus
21
artikkel kogumikus
Accurate NBTI-induced gate delay modeling based on intensive SPICE simulations
Kostin, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
MEDIAN Finale : Workshop on Manufacturable and Dependable Multicore Architectures at Nanoscale : November 10-11, 2015, Tallinn, Estonia
2015
/
p. 21-26 : ill
artikkel kogumikus
22
artikkel kogumikus
Adjustable self-healing methodology for accelerated functions in heterogeneous systems
Riazati, Mohammad
;
Ghasempouri, Tara
;
Daneshtalab, Masoud
;
Raik, Jaan
;
Sjodin, Mikael
;
Lisper, Bjorn
2020 23rd Euromicro Conference on Digital System Design (DSD), 26-28 August 2020, Kranj, Slovenia
2020
/
p. 638-645
https://doi.org/10.1109/DSD51259.2020.00104
artikkel kogumikus
23
artikkel kogumikus
Advanced technical education in the age of cyber physical systems
Vierhaus, Heinrich Theodor
;
Schölzel, Mario
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
10th European Workshop on Microelectronics Education : EWME 2014 : May 14-16, 2014, Tallinn, Estonia
2014
/
p. 193-198 : ill
artikkel kogumikus
24
artikkel kogumikus
Algorithms for hierarchical fault simulation in digital systems
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
;
Klüver, B.
Proceedings of the 10th International Conference : Mixed Design of Integrated Circuits and Systems : MIXDES 2003 : Lodz, Poland, 26-28 June 2003
2003
/
p. 530-535 : ill
artikkel kogumikus
25
artikkel kogumikus
An Accelerator-based architecture utilizing an efficient memory link for modern computational requirements
Yousefzadeh, Saba
;
Basharkhah, Katayoon
;
Raik, Jaan
;
Jenihhin, Maksim
2019 IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS)
2019
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/EWDTS.2019.8884481
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 443, kuvan
1 - 25
eelmine
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
järgmine
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT