Metamorphic testing for verification and fault localization in industrial control systems
vastutusandmed
Gaadha Sudheerbabu, Tanwir Ahmad, Dragos Truscan and Jüri Vain
ilmumiskoht
Cham
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
p. 127 - 159
ISBN
978-303142212-6
978-303142211-9
märkused
Bibliogr.: 46 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
märksõna
võtmesõna
Scopus
klassifikaator
Sudheerbabu, G., Ahmad, T., Truscan, D., Vain, J. Metamorphic testing for verification and fault localization in industrial control systems // CyberSecurity in a DevOps Environment: From Requirements to Monitoring. Cham : Springer Nature, 2023. p. 127 - 159.