JÄNES : a NAS framework for ML-based EDA applications
autor
Selg, Hardi
Jenihhin, Maksim
Ellervee, Peeter
vastutusandmed
Hardi Selg, Maksim Jenihhin, Peeter Ellervee
allikas
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2021
konverentsi nimetus, aeg
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 06-08 October 2021
konverentsi toimumispaik
Athens, Greece
leitav
https://doi.org/10.1109/DFT52944.2021.9568321
märksõna
tehisõpe
tehisnärvivõrgud
analüüs
raamprogrammid
ISSN
2765-933X
ISBN
978-1-6654-1609-2
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
3.1
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Uurimisrühm
Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)
Usaldusväärsete arvutisüsteemide keskus