Toggle navigation
Otsi
Publikatsioonid
Profiilid
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
Jenihhin, Maksim (autor)
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
Tühista
Leitud autorid
Jenihhin, Maksim 1981
CV
autor
juhendaja
toimetaja
teaviku laadid
raamat
artikkel ajakirjas
artikkel ajalehes
artikkel kogumikus
dissertatsioon
Open Access
Teaduspublikatsioon
aasta
Kirjeid leitud
158
Vaata veel..
(5/34)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(158)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
A DFT scheme to improve coverage of hard-to-detect faults in FinFET SRAMs
Cardoso Medeiros, Guilherme
;
Gürsoy, Cemil Cem
;
Fieback, Moritz
;
Wu, Lizhou
;
Jenihhin, Maksim
;
Taouil, Mottaqiallah
;
Hamdioui, Said
2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 9-13 March 2020, Grenoble, France : proceedings
2020
/
p. 792-797
https://doi.org/10.23919/DATE48585.2020.9116278
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
A rescue demonstrator for interdependent aspects of reliability, security and quality towards a complete EDA flow
Raik, Jaan
;
Jenihhin, Maksim
Proceedings of the 2020 Design, Automation & Test in Europe Conference &Exhibition (DATE 2020), 9 to 13 March, 2020, Grenoble, France
2020
/
p. 58
https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?arnumber=9116424
artikkel kogumikus
3
artikkel kogumikus
A scalable model based RTL framework zamiaCAD for static analysis
Tšepurov, Anton
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Tihhomirov, Valentin
2012 IEEE/IFIP 20th International Conference on VLSI and System-on-Chip (VLSI-SoC) : October 7-10, 2012 Santa Cruz, USA Dream Inn, Santa Cruz, USA : [proceedings]
2012
/
p. 171-176 : ill
artikkel kogumikus
4
artikkel kogumikus
A scalable technique to identify true critical paths in sequential circuits
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
Proceedings 2017 IEEE 20th International Symposium on Design and Diagnotics of Electronic Circuit & Systems(DDECS) : April 19-21, 2017, Dresden, Germany
2017
/
p. 152-157 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=7934553
artikkel kogumikus
5
dissertatsioon
A Synthetic, Hierarchical Approach for Modelling and Managing Complex Systems’ Quality and Reliability = Sünteetiline, hierarhiline lähenemine keerukate süsteemide kvaliteedi ja töökindluse modelleerimiseks ja haldamiseks
Balakrishnan, Aneesh
2022
https://digikogu.taltech.ee/et/Item/a594d3ec-0e6b-4a78-819a-fe1f47992612
dissertatsioon
Seotud publikatsioonid
9
Modeling gate-level abstraction hierarchy using graph convolutional neural networks to predict functional de-rating factors
On the estimation of complex circuits functional failure rate by machine learning techniques
Challenges of reliability assessment and enhancement in autonomous systems
The validation of graph model-based, gate level low-dimensional feature data for machine learning applications
Enabling cross-layer reliability and functional safety assessment through ML-based compact models
Understanding multidimensional verification : where functional meets non-functional
Composing graph theory and deep neural networks to evaluate SEU type soft error effects
Gate-level graph representation learning : a step towards the improved stuck-at faults analysis
Modeling soft-error reliability under variability
6
artikkel kogumikus
Abstraction of clock interface for conversion of RTL VHDL to SystemC
Saif Abrar, Syed
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
2014 IEEE International Advance Computing Conference (IACC) : February 21-22, 2014, Gurgaon, India
2014
/
p. 50-55 : ill
artikkel kogumikus
7
artikkel kogumikus
Accelerating transient fault injection campaigns by using Dynamic HDL Slicing
Bagbaba, Ahmet Cagri
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Sauer, Christian
2019 IEEE Nordic Circuits and Systems Conference (NORCAS) : NORCHIP and International Symposium of System-on-Chip (SoC), 29-30 October 2019, Helsinki, Finland : proceedings in IEEE Xplore
2019
/
7 p. : ill
https://doi.org/10.1109/NORCHIP.2019.8906932
artikkel kogumikus
8
artikkel kogumikus
Accurate NBTI-induced gate delay modeling based on intensive SPICE simulations
Kostin, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
MEDIAN Finale : Workshop on Manufacturable and Dependable Multicore Architectures at Nanoscale : November 10-11, 2015, Tallinn, Estonia
2015
/
p. 21-26 : ill
artikkel kogumikus
9
artikkel kogumikus
An Accelerator-based architecture utilizing an efficient memory link for modern computational requirements
Yousefzadeh, Saba
;
Basharkhah, Katayoon
;
Raik, Jaan
;
Jenihhin, Maksim
2019 IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS)
2019
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/EWDTS.2019.8884481
artikkel kogumikus
10
artikkel kogumikus
An approach for PSL assertion coverage analysis with high-level decision diagrams
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Shchenova, Tatjana
Proceedings of IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS'10) : St. Petersburg, Russia, September 17-20, 2010
2010
/
p. 13-16 : ill
artikkel kogumikus
11
artikkel ajakirjas
An approach for verification assertions reuse 2 in RTL test pattern generation
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Viilukas, Taavi
;
Fujiwara, Hideo
Journal of Shanghai Normal University : Natural Sciences
2010
/
p. 441-447 : ill
artikkel ajakirjas
12
artikkel kogumikus
An approach for verification assertions reuse in RTL test pattern generation
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Viilukas, Taavi
;
Fujiwara, Hideo
Digest of papers : IEEE 11th Workshop on RTL and High Level Testing : WRTLT'10 : December 5-6, 2010, Shanghai, China
2010
/
p. 107-110 : ill
artikkel kogumikus
13
artikkel kogumikus
An iterative approach to test time minimization for parallel hybrid BIST architecture
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Jervan, Gert
;
Peng, Z.
5th IEEE Latin-American Test Workshop - LATW 2004 : Cartagena, Colombia, 2004 : digest of papers
2004
/
p. 98-103 : ill
artikkel kogumikus
14
artikkel kogumikus
An iterative approach to test time minimization for parallel hybrid BIST architectures
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Jervan, Gert
;
Peng, Z.
System-on-Chip Conference 2004 : Bastad, Sweden
2004
/
p. ?
artikkel kogumikus
15
artikkel ajakirjas
An optimization framework for dynamic pipeline management in computing systems
Naqvi, Syed Rameez
;
Zahid, Anjum
;
Sawalha, Lina
;
Jenihhin, Maksim
Computers & electrical engineering
2019
/
p. 242-258 : ill
https://doi.org/10.1016/j.compeleceng.2019.07.013
artikkel ajakirjas
16
artikkel ajakirjas
Application of high-level decision diagrams for simulation-based verification tasks
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Tšepurov, Anton
;
Ubar, Raimund-Johannes
Estonian journal of engineering
2010
/
1, p. 56-77 : ill
artikkel ajakirjas
17
artikkel kogumikus
Application specific true critical paths identification in sequential circuits
Jürimägi, Lembit
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Devadze, Sergei
;
Oyeniran, Adeboye Stephen
2019 IEEE 25th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS 2019) : 1-3 July 2019, Greece
2019
/
p. 299-304 : ill
https://doi.org/10.1109/IOLTS.2019.8854442
artikkel kogumikus
18
artikkel kogumikus
Applications of the open source HW design framework zamiaCAD
Tšepurov, Anton
;
Tihhomirov, Valentin
;
Saif Abrar, Syed
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
DATE 2012 University Booth : Design Automation and Test in Europe : Dresden, Germany, March 12-16, 2012
2012
/
1 p
artikkel kogumikus
19
dissertatsioon
Approaches to extra-functional verification of security and reliability aspects in hardware designs = Riistvaraprojektide turva- ja töökindlusaspektide ekstrafunktsionaalse verifitseerimise lähenemisviisid
Lai, Xinhu
2022
https://www.ester.ee/record=b5502807*est
https://digikogu.taltech.ee/et/Item/cff1aeb9-b0b2-49ce-b81a-bfb9dc25fd56
dissertatsioon
Seotud publikatsioonid
5
Towards multidimensional verification : where functional meets non-functional
PASCAL : timing SCA resistant design and verification flow
Early RTL analysis for SCA vulnerability in fuzzy extractors of memory-based PUF enabled devices
On antagonism between side-channel security and soft-error reliability in BNN inference engines
Understanding multidimensional verification : where functional meets non-functional
20
artikkel kogumikus
APRICOT : a framework for teaching digital systems verification
Raik, Jaan
;
Jenihhin, Maksim
;
Tšepurov, Anton
;
Reinsalu, Uljana
;
Ubar, Raimund-Johannes
19th EAEEIE Annual Conference : June 29-July 2, 2008, Tallinn, Estonia : formal proceedings
2008
/
p. 172-177 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/EAEEIE.2008.4610181
artikkel kogumikus
21
artikkel kogumikus
Assertion checking with PSL and high-level decision diagrams
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Tšepurov, Anton
;
Ubar, Raimund-Johannes
Digest of papers IEEE 8th Workshop on RTL and High Level Testing : WRTLT'07 : October 12-13, 2007, Beijing, China
2007
/
p. 105-110 : ill
artikkel kogumikus
22
artikkel kogumikus
Assessment of diagnostic test for automated bug localization
Tihhomirov, Valentin
;
Tšepurov, Anton
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
LATW2013 : 14th IEEE Latin-American Test Workshop, Cordoba, Argentina, April 3-5, 2013 : [proceedings]
2013
/
[6] p. : ill
artikkel kogumikus
23
artikkel ajakirjas
Automated design error debug using high-level decision diagrams and mutation operators
Raik, Jaan
;
Repinski, Urmas
;
Tšepurov, Anton
;
Hantson, Hanno
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
Microprocessors and microsystems
2013
/
p. 505-513 : ill
artikkel ajakirjas
24
artikkel ajakirjas
Automated design error localization in RTL designs
Jenihhin, Maksim
;
Tšepurov, Anton
;
Tihhomirov, Valentin
;
Raik, Jaan
;
Hantson, Hanno
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Bartsch, Günter
;
Meza Escobar, Jorge Hernan
;
Wuttke, Heinz-Dietrich
IEEE design & test of computers
2014
/
p. 83-92 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/MDAT.2013.2271420
artikkel ajakirjas
25
artikkel ajakirjas
Automated identification of application-dependent safe faults in automotive systems-on-a-chips
Bagbaba, Ahmet Cagri
;
Augusto da Silva, Felipe
;
Sonza Reorda, Matteo
;
Hamdioui, Said
;
Jenihhin, Maksim
;
Sauer, Christian
Electronics
2022
/
art. 319
https://doi.org/10.3390/electronics11030319
artikkel ajakirjas
Kirjeid leitud 158, kuvan
1 - 25
eelmine
1
2
3
4
5
6
7
järgmine
autor
14
1.
Jenihhin, Maksim
2.
Andrijaškin, Maksim
3.
Antonov, Maksim
4.
Butsenko, Maksim
5.
Gorev, Maksim
6.
Maksim, Antonov
7.
Maksim, I.
8.
Maksim, Tiit
9.
Mõttus, Maksim
10.
Ošeka, Maksim
11.
Radzvilovits, Maksim
12.
Saat, Maksim
13.
Säkki, Maksim
14.
Zelenski, Maksim
tema kohta
6
1.
Jenihhin, Maksim
2.
Antonov, Maksim
3.
Butsenko, Maksim
4.
Gorev, Maksim
5.
Gorki, Maksim, pseud., 1868-1936
6.
Saat, Maksim
CV
6
1.
Jenihhin, Maksim 1981
2.
Antonov, Maksim 1978
3.
Gazizov, Maksim 1918
4.
Ošeka, Maksim 1988
5.
Saat, Maksim 1944
6.
Säkki, Maksim 1977
juhendaja
4
1.
Jenihhin, Maksim
2.
Antonov, Maksim
3.
Ošeka, Maksim
4.
Saat, Maksim
pealkiri
4
1.
Anti üle noore teadlase preemiad : [TTÜst Maksim Jenihhin]
2.
Tõnu Esko, Heli Lukner ja Maksim Jenihhin on pälvinud noorteadlase preemia
3.
ITL autasustas parimaid : [Ustus Aguri nimeline stipendium TTÜ doktorandile Maksim Jenihhinile]
4.
Kolmas kõne : [Maksim Saadi kõne TTÜ immatrikuleerimisaktusel]