print

Optimization of boundary scan tests using FPGA-based efficient scan architectures

autor

Aleksejev, Igor

Devadze, Sergei

Jutman, Artur

Shibin, Konstantin

vastutusandmed

Igor Aleksejev, Sergei Devadze, Artur Jutman, Konstantin Shibin

allikas

Journal of electronic testing : theory and applications (JETTA)

kirjastus/väljaandja

Springer

ajakirja aastakäik number kuu

vol. 32, 3

ilmumisaasta

2016

leheküljed

p. 245-255 : ill

leitav

https://doi.org/10.1007/s10836-016-5588-y

märksõna

diagnostika (tehnika)

skaneerimine

katseseadmed

digitaaltehnika

programmeeritav ventiilmaatriks

väliprogrammeeritav loogika

võtmesõna

boundary scan

reconfigurable scan-chain

embedded instrumentation

FPGA

ISSN

0923-8174

märkused

Bibliogr.: 23 ref

teaduspublikatsioon

klassifikaator

1.1

Scopus

https://www.scopus.com/sourceid/18040

https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-84964452131&origin=inward&txGid=035b6825dd1a37b925ec9c823fcecd7d

WOS

https://jcr.clarivate.com/jcr-jp/journal-profile?journal=J%20ELECTRON%20TEST&year=2016

https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000377449900002

kategooria (üld)

Engineering

Tehnika

kategooria (alam)

Engineering. Electrical and electronic engineering

Tehnika. Elektri- ja elektroonikatehnika

kvartiil

TTÜ struktuuriüksus

arvutitehnika instituut

keel

inglise