Otsing - TalTech teadusportaal

kuva

reasta

1

artikkel kogumikus

A digital measuring module for tool wear estimationOtto, Tauno; Kurik, Lembit; Papstel, JüriDAAAM international scientific book 20032003 / p. 435-444

artikkel kogumikus

2

artikkel kogumikus

A tool for random test generation targeting high diagnostic resolutionOsimiry, Emmanuel Ovie; Kostin, Sergei; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesBEC 2016 : 2016 15th Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 15th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 3-5, 2016, Tallinn, Estonia2016 / p. 79-82 : ill http://www.ester.ee/record=b2150914*est

artikkel kogumikus

3

dissertatsioon

AC measurement converters : analog and digital solutionsMärtens, Olev2000 http://www.ester.ee/record=b1707866*est

dissertatsioon

4

artikkel kogumikus

Algorithms for hierarchical fault simulation in digital systemsUbar, Raimund-Johannes; Raik, Jaan; Klüver, B.Proceedings of the 10th International Conference : Mixed Design of Integrated Circuits and Systems : MIXDES 2003 : Lodz, Poland, 26-28 June 20032003 / p. 530-535 : ill

artikkel kogumikus

5

artikkel kogumikus

Alternative graph based test design in digital systemsUbar, Raimund-JohannesProceedings of 11. NORCHIP seminar, Trondheim, Nov. 9-10, 19931993 / p. 48-62

artikkel kogumikus

6

artikkel kogumikus

Alternative graphs and test pattern design in digital systemsUbar, Raimund-JohannesProc. of the 6th Workshop on New Directions for Testing, Montreal, Canada, May 20-22, 19921992

artikkel kogumikus

7

dissertatsioon

At-speed testing and test quality evaluation for high-performance pipelined systems Töökiirusel testimine ja testi kvaliteedi hindamine kõrgjõudlus-konveierarhitektuuriga süsteemideleGorev, Maksim2015 https://digi.lib.ttu.ee/i/?3953

dissertatsioon

8

artikkel kogumikus

Berechnung von tests für die Fehlerdiagnose in DigitalsystemUbar, Raimund-JohannesInternationales wissenschaftliches Kolloquium, 21. 1. November bis 5. November 1976, H. 2: Vortragsreihe A 2: Entwurf, Analyse und Einsatz von informationsverarbeitenden Systemen: IWK1976 / p. [?]

artikkel kogumikus

9

artikkel kogumikus

Bringing research issues into lab scenarios on the example of SoC testing [Electronic resource]Ubar, Raimund-Johannes; Jutman, Artur; Devadze, Sergei; Wuttke, Heinz-DietrichInternational Conference on Engineering Education - ICEE 2007 : September 3-7, 2007, Coimbra, Portugal2007 / [7] p. : ill. [CD-ROM] http://icee2007.dei.uc.pt/proceedings/papers/429.pdf

artikkel kogumikus

10

artikkel kogumikus

CAD für Digitaltechnik - eine Programmfamilie für den Entwurf von Testmustern zum Test von DigitalschaltungenUbar, Raimund-JohannesIBM Hochschulkongress '92: Offene Grenzen - offene Systeme, Dresden, 30.09-2.10.19921992 / S.IV9 1-14

artikkel kogumikus

11

artikkel ajakirjas

Calculation of probabilistic testability measures for digital circuits with Structurally Synthesized BDDsJürimägi, Lembit; Ubar, Raimund-Johannes; Jenihhin, Maksim; Raik, JaanMicroprocessors and microsystems2020 / art. 103117, 12 p https://doi.org/10.1016/j.micpro.2020.103117

artikkel ajakirjas

12

artikkel ajakirjas

Combining functional and structural approaches in test generation for digital systemsUbar, Raimund-JohannesMicroelectronics reliability1998 / 3, p. 317-329 : ill

artikkel ajakirjas

13

artikkel kogumikus

Comparison of two approaches to improve functional BIST fault coverageKostin, Sergei; Ubar, Raimund-Johannes; Gorev, Maksim; Mägi, GunnarBEC 2014 : 2014 14th Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 14th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 6-8, 2014, Tallinn, Estonia2014 / p. 105-108 : ill

artikkel kogumikus

14

artikkel kogumikus

Conditional fault collapsing in digital circuits with shared structurally synthesized BDDs [Online resource]Jürimägi, Lembit; Ubar, Raimund-JohannesBEC 2018 : 2018 16th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC) : proceedings of the 16th Biennial Baltic Electronics Conference, October 8-10, 20182018 / 4 p. : ill https://doi.org/10.1109/BEC.2018.8600967

artikkel kogumikus

15

artikkel ajakirjas

Decision diagrams - from a mathematical notion to engineering applicationsStankovic, Radomir S.; Ubar, Raimund-Johannes; Astola, JaakkoFacta Universitatis [Niš]. Series electronics and energetics2011 / p. 281-301 : ill http://dx.doi.org/10.2298/FUEE1103281S

artikkel ajakirjas

16

artikkel ajakirjas

Defect-oriented mixed-level fault simulation in digital systemsUbar, Raimund-Johannes; Raik, Jaan; Ivask, Eero; Brik, MarinaFacta Universitatis [Niš]. Series electronics and energetics2002 / 1, April, p. 123-136 : ill

artikkel ajakirjas

17

artikkel ajakirjas

Design and verification of Cyber-Physical Systems using TrueTime, evolutionary optimization and UPPAALBalasubramaniyan, Sreram; Srinivasan, Seshadhri; Buonopane, Furio; Balasubramanian, Subathra; Vain, Jüri; Ramaswamy, SriniMicroprocessors and microsystems2016 / p. 37-48 : ill http://dx.doi.org/10.1016/j.micpro.2015.12.006

artikkel ajakirjas

18

artikkel kogumikus

Design error diagnosis using backtrace algorithm on decision diagramsRepinski, Urmas; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-Johannes; Jenihhin, Maksim; Tšepurov, AntonInfo- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK neljanda aastakonverentsi artiklite kogumik : 26.-27. novembril 2010, Essu mõis2010 / p. 93-96

artikkel kogumikus

19

artikkel ajakirjas

Diagnostic modelling of digital systems with decision diagramsUbar, Raimund-JohannesВестник Томского государственного университета : приложение2004 / август, материалы международных, всесоюзных и региональных научных конференций, симпозиумов, школ, проводимых в ТГУ, с. 174-179 : ил

artikkel ajakirjas

20

artikkel kogumikus

Diagnostic modelling of digital systems with multi-level decision diagramsUbar, Raimund-Johannes; Raik, Jaan; Evartson, Teet; Kruus, Margus; Lensen, HarriProceedings of the 17th IASTED International Conference on Modelling and Simulation : May 24-26, 2006, Montreal, Quebec, Canada2006 / p. 207-212 : ill

artikkel kogumikus

21

artikkel ajalehes

Digievolutsiooni võimalused kooliharidusesJürjo, SilvesterStudioosus2015 / lk. 20-21

artikkel ajalehes

22

raamat

Digitaalseadmete simuleerimine : õppemetoodiline vahend1989 https://www.ester.ee/record=b1221053*est

raamat

23

raamat

Digitaalseadmete struktuuri projekteerimine : õppevahendAriste, Andri1978 https://www.ester.ee/record=b1305228*est

raamat

24

raamat

Digitaalsüsteemide diagnostikaUbar, Raimund-Johannes2005 http://www.ester.ee/record=b2097071*est

raamat

25

raamat

Digitaaltehnika doktorantidele. Osa II, Kombinatsioon- ja järjendlülitused = Digital engineering. Part II, Combinational and sequential circuits [Võrguväljaanne]Lehtla, Madis2014 http://egdk.ttu.ee/files/2014/Digitaaltehnika_doktorantidele2.pdf

raamat

digitaaltehnika (märksõna)

teaviku laadid

märksõna 1