Решение задач проектирования тестов микроэлектронных устройств при помощи АГ
autor
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
Р.Убар
allikas
Тезисы докл. всесоюзн. школы-семинара "Диагностика, надежность контроль"
ilmumiskoht
Владивосток
ilmumisaasta
1990
leheküljed
c. 65
märksõna
mikroelektroonika
seadmed
testid
projekteerimine
keel
vene