Interaction of point defects with impurities in the Si-SiO2 system and its influence on the interface properties
autor
Kropman, Daniel
Kärner, Tiit
Dolgov, Sergei
Heinmaa, Ivo
Laas, Tõnu
Londos, C. A.
vastutusandmed
D. Kropman, T. Kärner, S. Dolgov, I. Heinmaa, T. Laas, C. A. Londos
allikas
The 9th International Conference on Global Research and Education : August 9-12, 2010, Riga : digest
ilmumiskoht
Riga
kirjastus/väljaandja
RTU Publishing House
ilmumisaasta
2010
leheküljed
p. 231-233
konverentsi nimetus, aeg
The 9th International Conference on Global Research and Education, August 9-12, 2010
konverentsi toimumispaik
Riga
leitav
https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S0040609009014564
märksõna
õhukesed kiled
tuumamagnetresonants
magnetresonants
ISBN
978-9934-10-046-8
keel
inglise