Dependence of multifractal analysis parameters on the darkness of a processed image
autor
Martsepp, Merike
Laas, Tõnu
Laas, Katrin
Priimets, Jaanis
Tõkke, Siim
Mikli, Valdek
vastutusandmed
Merike Martsepp, Tõnu Laas, Katrin Laas, Jaanis Priimets, Siim Tõkke, Valdek Mikli
allikas
Chaos, Solitons & Fractals
kirjastus/väljaandja
Elsevier
ajakirja aastakäik number kuu
vol. 156
ilmumisaasta
2022
leheküljed
art. 111811
leitav
https://doi.org/10.1016/j.chaos.2022.111811
märksõna
volfram
skaneeriv elektronmikroskoopia
optiline mikroskoopia
pilditöötlus
võtmesõna
multifractal analysis
tungsten
Plasma
SEM
optical microscope
image processing
image darkness
ISSN
0960-0779
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
1.1
Scopus
https://www.scopus.com/sourceid/25347
https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85123586094&origin=inward&txGid=75e82391482599e91d44554c9d605712
WOS
https://jcr.clarivate.com/jcr-jp/journal-profile?journal=CHAOS%20SOLITON%20FRACT&year=2022
https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000782110200009
kategooria (üld)
Mathematics
Matemaatika
Physics and astronomy
Füüsika ja astronoomia
kategooria (alam)
Mathematics. Mathematical physics
Matemaatika. Matemaatiline füüsika
Mathematics. Applied mathematics
Matemaatika. Rakendusmatemaatika
Physics and astronomy. Statistical and nonlinear physics
Füüsika ja astronoomia. Statistiline ja mittelineaarne füüsika
Physics and astronomy. General physics and astronomy
Füüsika ja astronoomia. Üldfüüsika ja astronoomia
kvartiil
Q1
TTÜ struktuuriüksus
Eesti Mereakadeemia
materjali- ja keskkonnatehnoloogia instituut
keel
eesti
Uurimisrühm
Päikeseenergeetika materjalide teaduslabor