Toggle navigation
Otsi
Publikatsioonid
Profiilid
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
skaneeriv elektronmikroskoopia (märksõna)
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Kirjeid leitud
4
Vaata veel..
(3/5)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(4)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas
Dependence of multifractal analysis parameters on the darkness of a processed image
Martsepp, Merike
;
Laas, Tõnu
;
Laas, Katrin
;
Priimets, Jaanis
;
Tõkke, Siim
;
Mikli, Valdek
Chaos, Solitons & Fractals
2022
/
art. 111811
https://doi.org/10.1016/j.chaos.2022.111811
artikkel ajakirjas
2
artikkel kogumikus
Preparation of the steam-exploded wood samples for scanning electron microscopic studies
Kallavus, Urve
;
Grāvītis, Jānis
Presymposion "Modern methods of analysis of wood, annual plants, and bleach plant effluents", Myrtle Beach, SC, USA, 1989
1989
artikkel kogumikus
3
artikkel ajakirjas
Understanding and control of stress at Si-SiO2 interface
Kropman, Daniel
;
Seeman, Viktor
;
Medvids, Arturs
;
Onufrijevs, Pavels
;
Vitusevich, Svetlana
;
Mikli, Valdek
Key engineering materials
2020
/
p. 291−296
https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/KEM.850.291
artikkel ajakirjas
4
artikkel ajakirjas
Исследование древесины, модифицированной смолами ДФК, с помощью сканирующего электронного микроскопа
Tanner, Jüri
;
Nikitšenko, Ludmilla
;
Kallavus, Urve
Химия древесины
1982
/
с. 106-110 : ил
https://www.ester.ee/record=b2158897*est
artikkel ajakirjas
Kirjeid leitud 4, kuvan
1 - 4
märksõna
3
1.
skaneeriv elektronmikroskoopia
2.
elektronmikroskoopia
3.
läbivkiirguse elektronmikroskoopia
TTÜ struktuuriüksus
1
1.
elektronmikroskoopia labor
pealkiri
1
1.
Elektronmikroskoopia võimalused ehitiste kivimaterjalide korrosioonikahjustuste uurimiseks
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT