An automatic test generation system for microprocessor VLSI
autor
Kont, Toomas
allikas
Машинное проектирование электронных устройств и систем
ilmumiskoht
Tallinn
kirjastus/väljaandja
Tallina Tehnikaülikool
ilmumisaasta
1989
leheküljed
p. 104-113
seeria-sari
Tallinna Tehnikaülikooli toimetised = Труды Таллинского технического университета = Transactions of Tallinn Technical University ; 696
Электротехника и автоматика ; 37
seeria variantpealkiri
TTÜ Toimetised ; 696
Труды ТТУ ; 696
märksõna
mikroprotsessorid
testimine
TTÜ märksõna
Tallinna Tehnikaülikooli toimetised
märkused
Bibliogr. : 5 ref
keel
inglise