System modelling and measurement under the view of design of testability and fault diagnosis of analog circuits
autor
Liu, Ji-Gou
Frühauf, Uwe
vastutusandmed
Ji-Gou Liu and Uwe Frühauf
allikas
BEC'96 : the 5th Biennial Baltic Electronics Conference, October 7-11, 1996, Tallinn, Estonia : proceedings
ilmumiskoht
[Tallinn]
ilmumisaasta
1996
leheküljed
p. 295-298: ill
märksõna
analoogelektroonika
rikked
diagnostika (tehnika)
ISBN
9985-59-026-0
märkused
Bibl. 4 ref
keel
inglise