Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
Liu, Ji-Gou (autor)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
3
Vaata veel..
(4/45)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(3)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Recursive Self-Correction Discrete Fourier Transform and application to impedance measurement
Liu, Ji-Gou
;
Schönecker, Andreas
;
Frühauf, Uwe
BEC'98 : the 6th Biennial Conference on Electronics and Microsystems Technology, October 7-9, 1998, Tallinn, Estonia : proceedings
1998
/
p. 109-112: ill
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
System modelling and measurement under the view of design of testability and fault diagnosis of analog circuits
Liu, Ji-Gou
;
Frühauf, Uwe
BEC'96 : the 5th Biennial Baltic Electronics Conference, October 7-11, 1996, Tallinn, Estonia : proceedings
1996
/
p. 295-298: ill
artikkel kogumikus
3
artikkel kogumikus
Testability-based parameter measurement of analog measuring circuits in the frequency domain
Liu, Ji-Gou
;
Frühauf, Uwe
BEC'98 : the 6th Biennial Conference on Electronics and Microsystems Technology, October 7-9, 1998, Tallinn, Estonia : proceedings
1998
/
p. 329-332: ill
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 3, kuvan
1 - 3
autor
41
1.
Liu, Ji-Gou
2.
Ji, Pengcheng
3.
Ji, Zhiying
4.
Ji, Y.D.
5.
Ji, Yugi
6.
Lee, Ji Young
7.
Shin, Min-Ji
8.
Liu, C.
9.
Liu, C. Y.
10.
Liu, Chenchen
11.
Liu, Chia-Fei
12.
Liu, Fuyan
13.
Liu, Guolong
14.
Liu, Hongliang
15.
Liu, Hongxin
16.
Liu, Hongyu
17.
Liu, Huiling
18.
Liu, J.
19.
Liu, Jianbo
20.
Liu, Jingjing
21.
Liu, Jinhai
22.
Liu, Le
23.
Liu, Lei
24.
Liu, Lisheng
25.
Liu, Ming
26.
Liu, S. J.
27.
Liu, Shengyuan
28.
Liu, Zhiyuan
29.
Liu, Zhong-Jian
30.
Liu, Zuoyu
31.
Liu, Weijia
32.
Liu, Wenjie
33.
Liu, Xiangdong
34.
Liu, Xiao
35.
liu, Xinwen
36.
Liu, Y.
37.
Liu, Yang
38.
Liu, Ye
39.
Liu, Yi
40.
Liu, Yu
41.
Zuokui, Liu
CV
2
1.
Liu, Le 1982
2.
Liu, Lei
võtmesõna
1
1.
Liu procedure
tema kohta
1
1.
Liu, Le
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT