Understanding fault-tolerance vulnerabilities in advanced SoC FPGAs for critical applications
autor
Cherezova, Natalia
Shibin, Konstantin
Jenihhin, Maksim
Jutman, Artur
vastutusandmed
Natalia Cherezova, Konstantin Shibin, Maksim Jenihhin, Artur Jutman
allikas
Microelectronics reliability
kirjastus/väljaandja
Elsevier
ajakirja aastakäik number kuu
vol. 146
ilmumisaasta
2023
leheküljed
art. 115010, 10 p. : ill
leitav
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2023.115010
märksõna
töökindlus
kiirendid
rikked
tulemused
veakindlus
tõrketaluvus
võtmesõna
cross-layer reliability
fault effects
fault-tolerance
SoC FPGA
soft errors
ISSN
0026-2714
märkused
Bibliogr.: 75 ref
Open Access
Open Access
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
1.1
Scopus
https://www.scopus.com/sourceid/26717
https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85159638800&origin=inward&txGid=5c8c991b1cc2020860e81a21c25c1f79
WOS
https://jcr.clarivate.com/jcr-jp/journal-profile?journal=MICROELECTRON%20RELIAB&year=2023
https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:001001810500001
kategooria (üld)
Engineering
Tehnika
Physics and astronomy
Füüsika ja astronoomia
Materials science
Materjaliteadus
kategooria (alam)
Engineering. Safety, risk, reliability and quality
Tehnika. Ohutus, risk, töökindlus ja kvaliteet
Engineering. Electrical and electronic engineering
Tehnika. Elektri- ja elektroonikatehnika
Physics and astronomy. Atomic and molecular physics, and optics
Füüsika ja astronoomia. Aatomi- ja molekulaarfüüsika ning optika
Physics and astronomy. Condensed matter physics
Füüsika ja astronoomia. Kondenseeritud aine füüsika
Materials science. Surfaces, coatings and films
Materjaliteadus. Pinnad, katted ja kiled
Materials science. Electronic, optical and magnetic materials
Materjaliteadus. Elektroonilised, optilised ja magnetilised materjalid
kvartiil
Q2
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise