Normale zur Eichung von Schichtdickenmeßgeräten
autor
vastutusandmed
R. Laaneots, A. Velling
allikas
Metrologia wielkości mechanicznych i kontrola jakości produkcji : sympozjum metrologia '89, Warszawa, 21-23 czerwca 1989 r. : referaty i komunikaty
ilmumiskoht
Warszawa
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
S. 267-274
konverentsi nimetus, aeg
Metrologia wielkości mechanicznych i kontrola jakości produkcji : sympozjum metrologia '89, 21-23 czerwca 1989 r.
konverentsi toimumispaik
Warszawa
märksõna
TTÜ struktuuriüksus
keel
saksa
Laaneots, R., Velling, A. Normale zur Eichung von Schichtdickenmeßgeräten // Metrologia wielkości mechanicznych i kontrola jakości produkcji : sympozjum metrologia '89, Warszawa, 21-23 czerwca 1989 r. : referaty i komunikaty. Warszawa : Politechnika Warszawska, 1989. S. 267-274.