Evaluating architectural, redundancy, and implementation strategies for radiation hardening of FinFET integrated circuits
autor
Pagliarini, Samuel Nascimento
Benites, Luis
Martins, Mayler
Rech, Paolo
Kastensmidt, Fernanda
vastutusandmed
Samuel Pagliarini, Luis Benites, Mayler Martins, Paolo Rech, Fernanda Kastensmidt
allikas
IEEE transactions on nuclear science
kirjastus/väljaandja
IEEE
ajakirja aastakäik number kuu
vol. 68, 5
ilmumisaasta
2021
leheküljed
p. 1045-1053
leitav
https://doi.org/10.1109/TNS.2021.3070643
märksõna
riistvara
rikked
optimeerimine
integraallülitused
võtmesõna
circuit synthesis
logic synthesis
radiation hardening
redundancy
ISSN
0018-9499
märkused
Bibliogr.: 23 ref
Open Access
Open Access
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
1.1
Scopus
https://www.scopus.com/sourceid/17368
https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85103797089&origin=inward&txGid=6c92c2fbb6cf4232257945f91e1079ba
WOS
https://jcr.clarivate.com/jcr-jp/journal-profile?journal=IEEE%20T%20NUCL%20SCI&year=2022
https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000655537500073
kategooria (üld)
Energy
Energia
Physics and astronomy
Füüsika ja astronoomia
Engineering
Tehnika
kategooria (alam)
Energy. Nuclear energy and engineering
Energia. Tuumaenergia ja -tehnika
Physics and astronomy. Nuclear and high energy physics
Füüsika ja astronoomia. Tuuma- ja kõrgenergiafüüsika
Engineering. Electrical and electronic engineering
Tehnika. Elektri- ja elektroonikatehnika
kvartiil
Q2
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Uurimisrühm
Riistvara turvalisuse keskus