Test pattern generation for microprocessor systems on the alternative graph model
autor
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
Ubar, R.
allikas
Proceedings of the 3rd Symposium of the IMEKO Technical Committee on Technical Diagnostics (TC10), held in Moscow, October 3 - 5, 1983
ilmumiskoht
Budapest
kirjastus/väljaandja
IMEKO
ilmumisaasta
1985
leheküljed
p. 403-410
konverentsi nimetus, aeg
3rd Symposium of the IMEKO Technical Committee on Technical Diagnostics (TC10), October 3 - 5, 1983
konverentsi toimumispaik
Moscow, Russia
märksõna
mikroprotsessorid
diagnostika (tehnika)
TTÜ struktuuriüksus
elektronarvutite kateeder
keel
inglise